[发明专利]一种确定地层孔隙度的方法、装置及系统有效
申请号: | 201811066784.2 | 申请日: | 2018-09-13 |
公开(公告)号: | CN109100815B | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
发明(设计)人: | 马亮;孙夕平;李凌高;于永才;张昕;张鑫;戚鹏飞 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
主分类号: | G01V5/10 | 分类号: | G01V5/10 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 确定 地层 孔隙 方法 装置 系统 | ||
1.一种确定地层孔隙度的方法,其特征在于,包括:
将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点,其中,所述交会图版包括中子-密度标准岩性曲线;
将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线;
利用所述等值线划分不同的岩性区域,确定所述投影点所在岩性区域;
根据所述投影点所在岩性区域确定所述投影点对应的孔隙度。
2.根据权利要求1所述确定地层孔隙度的方法,其特征在于,采用下述方式构建所述交会图版:
生成中子-密度标准岩性曲线,对所述中子-密度标准岩性曲线进行岩性影响校正,获得交会图版。
3.根据权利要求2所述确定地层孔隙度的方法,其特征在于,所述构建所述交会图版,包括:
对岩性影响校正后的标准岩性曲线进行密度坐标归位处理,获得交会图版。
4.根据权利要求1所述确定地层孔隙度的方法,其特征在于,所述确定所述投影点对应的孔隙度,包括:
当所述投影点落在两种岩性的混合区域时,确定所述投影点最近的等值线,求取过投影点且与该等值线平行的直线;
计算该直线与所述混合区域对应的标准岩性曲线交点的值,将交点的值确定为该投影点的孔隙度。
5.根据权利要求1-4任一项所述确定地层孔隙度的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述投影点所在岩性区域确定所述目标层段的岩性。
6.根据权利要求1-4任一项所述确定地层孔隙度的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据对目标层段的中子及密度测量数据在所述交会图版中分布的分析结果,确定投影点的校正值及校正因子;
根据所述校正值及校正因子对所述目标层段的中子曲线或密度曲线进行环境校正。
7.一种确定地层孔隙度的装置,其特征在于,包括:
数据投影模块,用于将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点,其中,所述交会图版包括中子-密度标准岩性曲线;
岩性区域划分模块,用于将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线,利用所述等值线划分不同的岩性区域,确定所述投影点所在岩性区域;
孔隙度确定模块,用于根据所述投影点所在岩性区域确定所述投影点对应的孔隙度。
8.根据权利要求7所述的确定地层孔隙度的装置,其特征在于,所述装置还包括:
环境校正模块,用于根据对目标层段的中子及密度测量数据在所述交会图版中分布的分析结果,确定投影点的校正值及校正因子,根据所述校正值及校正因子对所述目标层段的中子曲线或密度曲线进行环境校正。
9.一种确定地层孔隙度的设备,其特征在于,包括处理器及用于存储处理器可执行指令的存储器,所述指令被所述处理器执行时实现包括以下步骤:
将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点,其中,所述交会图版包括中子-密度标准岩性曲线;
将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线;
利用所述等值线划分不同的岩性区域,确定所述投影点所在岩性区域;
根据所述投影点所在岩性区域确定所述投影点对应的孔隙度。
10.一种确定地层孔隙度的系统,其特征在于,包括至少一个处理器以及存储计算机可执行指令的存储器,所述处理器执行所述指令时实现权利要求1-6中任意一项所述方法的步骤。
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