[发明专利]在临界装置上测量大反应性时优化中子探测器位置的方法

权利要求书

1.在临界装置上测量大反应性时优化中子探测器位置的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：在临界装置堆桶内设置多个预设位置；所述预设位置为可布置探测器的位置；

S2：根据各预设位置处的中子通量参数得出各预设位置的空间因子；

所述空间因子K_r根据下式得出：

式中K_r为空间因子；Ψ_d(r)为临界状态下降下待测棒组时预设位置处的中子通量形状函数；Ψ_c(r)为临界状态下升起待测棒组至预设高度时预设位置处的中子通量形状函数；

S3：从各预设位置中选取空间因子最优的预设位置作为探测位置进行探测；

其中，所述空间因子最优的预设位置为空间因子绝对值最接近1的预设位置。

2.根据权利要求1所述的在临界装置上测量大反应性时优化中子探测器位置的方法，其特征在于，步骤S1包括以下子步骤：

所述预设位置在堆桶轴向上分为上下两层。

3.根据权利要求1所述的在临界装置上测量大反应性时优化中子探测器位置的方法，其特征在于，步骤S2包括以下子步骤：

所述空间因子K_r根据下式得出：

式中K_r为空间因子；Φ_d(r,t)为临界状态下降下待测棒组时预设位置处的中子通量密度；Φ_c(r,t)为临界状态下升起待测棒组至预设高度时预设位置处的中子通量密度。

4.根据权利要求1所述的在临界装置上测量大反应性时优化中子探测器位置的方法，其特征在于，步骤S2包括以下子步骤：

所述空间因子通过MCNP建立的计算模型得出；

所述空间因子K_r根据下式得出：

式中K_r为空间因子；F4_d为临界状态下降下待测棒组时预设位置处的栅元体通量计数；所述F4_c为临界状态下升起待测棒组至预设高度时预设位置处的栅元体通量计数。