[发明专利]一种测交法

说明书

本发明公开了一种测交法，涉及测绘技术领域。本发明包括步骤一：获取两控制点A和B的坐标；步骤二：在A、B点之外的任意地方C架设测量仪器；步骤三：通过测量仪器测量C点至B点的距离m及夹角∠ACB；步骤四：计算C点坐标。本发明通过在两不能相互通视的测控点A和B以外架设测量仪器在未知点C，并通过测量仪器测量点C至点B的距离m以及夹角∠ACB，并通过距离m以及夹角∠ACB计算C点坐标，中间不需要对测量仪器实施对中，在测量过程中解决控制点不通视的精确测量问题；减少在测量过程中的架设仪器所产生的误差，提高测量效率和测量精度。

技术领域

本发明属于测绘技术领域，特别是涉及一种测交法。

背景技术

现在工业、医疗和科技等建设过程中，很多大型设备安装需要准确定位，这就需要测绘工作者进行测量放线，使用高精度测绘仪器实施精准定位，比如1秒级或0.5秒级的全站仪，1秒级的测距精度是1+1.5ppm,0.5秒级的测距精度是0.6+1ppm。在实践中还存在因素对误差的影响，尤其是换站所产生的误差。在实际测绘过程中，常遇到给定的两测控点不通视(即从一点架设仪器看不到另一点)，这种情况给精确测绘带来麻烦。

本发明致力于发明一种测交法，用于解决现有的测绘过程中两给定测控点不通视不能保证精确测量及放样的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测交法，通过在两不能相互通视的测控点A 和B以外架设测量仪器在未知点C上，并通过测量仪器测量C至点B的距离 m以及夹角∠ACB，并通过距离m以及夹角∠ACB计算C点坐标，中间不需要对测量仪器对中，避免了对中过程的误差，解决现有的测绘过程中两给定测控点不通视而不能保证精确测量及放样的问题。

为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

本发明为一种测交法，包括如下步骤：

步骤一：获取两控制点A和B的坐标；

步骤二：在A、B点之外的任意一点C架设测量仪器；

步骤三：通过测量仪器测量C点至B点的距离m及夹角∠ACB；

步骤四：计算C点坐标。

优选地，所述点C至点B的距离与点C至点A点的距离至少一个小于点 A至点B的距离。

优选地，所述夹角∠ACB为按照定向A点后顺时针方向从控制点A到控制点B的夹角。

本发明具有以下有益效果：

本发明通过在两不能相互通视的测控点A和B以外架设测量仪器在未知点C，并通过测量仪器计算点A至点C的距离m以及夹角∠ACB，并通过距离m以及夹角∠ACB计算C点坐标，中间不需要对测量仪器的对中，在测量过程中解决控制点不通视的精确测量问题；减少在测量过程中的架设仪器所产生的误差，提高测量效率和测量精度。

当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的一种测交法的流程图；

图2为本发明具体实施方式中A、B、C在坐标系中的示意图；

图3为本发明具体实施方式中A、B、C在坐标系中求解过程的示意图。

具体实施方式