[发明专利]工艺波动测试方法及装置在审
申请号: | 201811073871.0 | 申请日: | 2018-09-14 |
公开(公告)号: | CN109243344A | 公开(公告)日: | 2019-01-18 |
发明(设计)人: | 卓恩宗;莫琼花 | 申请(专利权)人: | 惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 梁香美 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 工艺波动 参数组 测试方法及装置 标准参数 波动参数 测试数据 测试 获取目标 目标参数 显示基板 | ||
1.一种工艺波动测试方法,其特征在于,包括:
获得待测试显示基板的测试数据;
从所述测试数据中获取目标参数组;
计算得到所述目标参数组中的每项参数组的平均值及离散程度数;
根据每项参数组的平均值及离散程度数计算得到多个波动参数点;
将所述多个波动参数点与根据标准参数组计算得到的多个标准参数点进行对比,获得工艺波动测试结果。
2.如权利要求1所述的工艺波动测试方法,其特征在于,预设的多个参数包括开启电压、开启电流、最大充电电流、漏电流、最大电流及跨导电压中的至少两个参数,所述目标参数组中的数据类型为所述预设的多个参数中的参数类型。
3.如权利要求1或2所述的工艺波动测试方法,其特征在于,所述根据每项参数组的平均值及离散程度数计算得到多个波动参数点的步骤包括:
计算每项参数组的平均值与第一指定倍数的离散程度数之和,得到每项参数组对应的第一波动参数;
计算每项参数组的平均值与第二指定倍数的离散程度数之差,得到每项参数组对应的第二波动参数;
组合每项参数组对应的第一波动参数,形成第一参数点;
组合每项参数组对应的第二波动参数,形成第二参数点;
组合每项参数组的平均值,形成第三参数点,进而获得包含所述第一参数点、所述第二参数点及所述第三参数点的多个波动参数点。
4.如权利要求1或2所述的工艺波动测试方法,其特征在于,所述根据每项参数组的平均值及离散程度数计算得到多个波动参数点的步骤包括:
计算每项参数组的平均值与第一指定倍数的离散程度数之和,得到每项参数组对应的第一波动参数;
计算每项参数组的平均值与第二指定倍数的离散程度数之差得到每项参数组对应的第二波动参数;
组合每项参数组对应的第一波动参数,形成第一参数点;
组合每项参数组对应的第二波动参数,形成第二参数点;
组合每项参数组的平均值,形成第三参数点;
交叉组合每项参数组对应的第一波动参数与每项参数组对应的第二波动参数组,形成其它参数点,进而获得包含所述第一参数点、所述第二参数点、所述第三参数点及所述其它参数点的多个波动参数点。
5.如权利要求1所述的工艺波动测试方法,其特征在于,在所述将所述多个波动参数点与根据标准参数组计算得到的多个标准参数点进行对比,获得工艺波动测试结果的步骤之前,所述方法还包括:
接收在目标时间节点测试得到的多组数据;
从所述多组数据中确定出所述标准参数组;
计算得到所述标准参数组中的每项标准参数组的标准平均值及标准离散程度数,再根据每项标准参数组的标准平均值及标准离散程度数计算得到所述多个标准参数点。
6.一种工艺波动测试方法,其特征在于,包括:
获得待测试显示基板的测试数据;
从预设的多个参数中选择两个参数作为参数组合;
从所述测试数据中选择所述两个参数的所有值,形成目标参数组;
计算得到所述目标参数组中的每项参数组的平均值及标准差;
根据每项参数组的平均值及标准差计算得到多个波动参数点;
将所述多个波动参数点与根据标准参数组计算得到的多个标准参数点进行对比,获得工艺波动测试结果;
将所述工艺波动测试结果输出显示。
7.一种工艺波动测试装置,其特征在于,包括:
获得模块,用于获得待测试显示基板的测试数据;
选取模块,用于从所述测试数据中选取目标参数组;
第一计算模块,用于计算得到所述目标参数组中的每项参数组的平均值及离散程度数;
第二计算模块,用于根据每项参数组的平均值及离散程度数计算得到多个波动参数点;
对比模块,用于将所述多个波动参数点与根据标准参数组计算得到的多个标准参数点进行对比,获得工艺波动测试结果。
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