[发明专利]一种电子元件检测装置

权利要求书

1.一种电子元件检测装置，其特征在于，其包括底座、支撑台、检测圆盘、检测探针组件、尺寸检测器和电子元件表面视觉检测系统，其中，所述支撑台采用所述底座进行支撑设置，所述支撑台的中心采用分度主轴可转动的支撑设置有检测圆盘，所述检测圆盘上设置有同轴分布的两组阶梯孔，每组阶梯孔孔均圆周阵列布设在所述检测圆盘上，且两组阶梯孔的个数相等，所述阶梯孔的底部支撑连接有透明支撑玻璃片，待检测的电子元件放置在阶梯孔内并由所述透明支撑玻璃片支撑，所述支撑台上位于所述检测圆盘的外侧设置有至少一个检测探针组件，所述支撑台上位于所述检测圆盘的两组阶梯孔的下方设置有两组对称布设的尺寸检测器和两组对称布设的电子元件表面视觉检测系统，其中一组尺寸检测器和电子元件表面视觉检测系统对电子元件正面进行检测，另外一组尺寸检测器和电子元件表面视觉检测系统对电子元件反面进行检测，所述支撑台上还设置有位于所述检测圆盘外侧的对电子元件进行翻面处理的翻转机械手，所述翻转机械手采用机械手底座固定在所述支撑台上。

2.根据权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述检测探针组件包括安装座、转动座、支撑柱、升降调节柱、检测座和检测盘，其中，所述安装座固定在所述支撑台上，所述安装座上通过转动座连接设置有所述支撑柱，所述支撑柱的顶部设置有向所述检测圆盘侧水平延伸的延伸段，所述延伸段上设置有升降调节柱，所述升降调节柱的底部设置有检测座，所述检测座的下部连接有检测盘，所述检测盘上设置有检测探针固定组件，多个检测探针可调节位置的设置在所述检测探针固定组件上。

3.根据权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：每组尺寸检测器和电子元件表面视觉检测系统安装布设在同一台座上，所述台座设置在升降支撑轴上，所述升降支撑轴的下端穿过所述支撑台的通孔连接在升降气缸上，所述升降气缸固定在所述支撑台底面，所述支撑台的通孔内固定设置有导向套，所述升降支撑轴与所述导向套滑动导向配合。

4.根据权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述支撑台的中心设置有向上延伸的辅助固定筒，所述分度主轴采用轴承支撑可转动的设置在所述辅助固定筒内，所述分度主轴的下端连接在分度驱动器的输出轴上，所述分度驱动器通过驱动器固定架固定在所述支撑台底部。

5.根据权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述透明支撑玻璃片采用黏胶剂粘结支撑固定在所述阶梯孔的阶梯壁上。

6.根据权利要求2所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述检测探针固定组件包括内固定盘、外锁紧转盘、连杆一、连杆二、锁紧杆和固定杆，其中，所述内固定盘同轴向下延伸固定设置在所述检测盘上，所述内固定盘的中心设置有固定设置在所述检测盘上的中心定位盘，所述内固定盘的外部同轴套设有外锁紧转盘，所述外锁紧转盘的内壁与所述内固定盘外壁之间设置有锁紧操作腔，所述内固定盘上圆周阵列设置有多个沿着其径向方向延伸的锁紧孔，所述锁紧杆伸入且可沿着所述锁紧孔滑动，所述内固定盘的外圆周上位于所述锁紧孔一侧固定设置有所述连杆二，所述连杆一的一端铰接设置在所述内固定盘的内壁上，所述连杆一的另一端铰接设置在所述锁紧杆的端部，所述连杆一的中部铰接设置在所述连杆二的端部，所述连杆一为弧形杆，所述内固定盘的内壁和中心定位盘的外壁上均设置有位置相互对应的定位槽，所述锁紧孔位于所述定位槽处，所述固定杆的两端分别定位在所述内固定盘和中心定位盘的定位槽内，且所述固定杆的外端设置有与所述锁紧杆进行锁紧配合的锁紧盲孔，所述固定杆上密集设置有对检测探针进行固定的固定孔，通过检测探针安装在不同的固定孔，实现检测探针的位置调节，以便适应不同型号或者不同类型电子元件的需要，所述内固定盘、外锁紧转盘之间还设置有对外锁紧转盘进行锁紧的锁紧销。

7.根据权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述检测探针组件包括两组，其中一组用于检测电子元件的电源线信号，另一组用于检测电子元件的信号线信号。

8.根据权利要求2所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述转动座内设置有转动气缸，所述支撑柱通过所述转动气缸进行驱动转动。