[发明专利]用于自动RFID质量控制的系统和方法

说明书

本发明描述用于自动RFID质量控制过程的系统和方法。该方法可以包括用质量控制规格配置RFID制造印刷机、制造批次RFID内嵌物、在每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与质量控制规格比较，以及基于性能测试的结果确定该批次RFID标签通过状态或失败状态。该系统可以包括具有至少一条生产线的RFID制造印刷机、至少一个询问器天线和用于RFID制造印刷机的可编程控制逻辑，其中可编程控制逻辑适于在由制造印刷机输出的批次RFID内嵌物的每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与用户可配置的质量控制规格比较，以及确定该批次RFID内嵌物是否符合规格。

本申请是分案申请，原申请的申请日为2012年4月12日、申请号为2012800202924、发明名称为“用于自动RFID质量控制的系统和方法”。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2011年4月26日提交的美国专利申请No.13/093,933的权益，该申请以其整体通过引用并入本文。

背景技术

射频识别(RFID)标签用来跟踪、识别和定位商品已在近年来显著增长。RFID标签允许制造商、批发商和零售商等利用RFID标签管理产品和存货，迅速确定生产、制造、批发或零售需要以及有效进货和出货。RFID标签自身可以提供任何期望产品数据并可以用各种方式中的任何一种扫描或读取。

在制造过程之后，RFID标签可以经历若干封装过程中的一种。例如，某些类型RFID标签可以封装成卷以方便整体运输到客户。然而在运输之前，RFID标签可以经历质量控制过程，其中确定RFID标签的具体卷是否在产率和连续缺陷方面符合客户规格。例如，客户可以要求每卷RFID标签具有98％的工作标签产率，并且不多于5个连续标签有缺陷。为确定一卷RFID标签是否符合客户需求，每卷可以通过经历校订过程来检查。该过程通常在RFID标签卷离开制造印刷机之后发生。通常从生产线取出内嵌物的卷并且视觉检查，并且然后在卷准备好运输之前从片材切除缺陷内嵌物。该过程相对于制造过程的其他步骤可以是耗时的和劳动力密集的，在运输之前导致瓶颈。

由于RFID制造技术改善，因此产率百分比提高并且连续缺陷标签的数目减小。在许多情况中，多于90％的RFID卷符合客户需求。因此期望绕过校订过程以使制造过程流水线化、使瓶颈最小化并降低成本。

发明内容

根据至少一个示例性实施方式，提供用于自动RFID质量控制的系统和方法。该方法可以包括用质量控制规格配置RFID制造印刷机、制造一批RFID内嵌物、在每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与质量控制规格比较，以及基于性能测试的结果确定该批RFID内嵌物的通过状态或失败状态。该方法可以进一步包括记录性能测试的结果、连续监控记录的结果，以及指示RFID制造印刷机的每条生产线(lane)的该批RFID内嵌物的通过状态或失败状态。

系统可以包括具有至少一条生产线的RFID制造印刷机、至少一个询问器天线和用于RFID制造印刷机的可编程控制逻辑，其中可编程控制逻辑适于在由制造印刷机输出的批次RFID内嵌物的每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与用户可配置的质量控制规格比较，以及确定该批RFID内嵌物是否符合规格。控制逻辑可以进一步适于记录性能测试的结果、连续监控性能测试的结果，以及指示该批RFID内嵌物的通过状态或失败状态。系统可以进一步包括用于输入质量控制规格的界面、用于显示性能测试记录结果的界面，以及用于指示RFID制造印刷机的每条生产线的该批RFID内嵌物的通过状态或失败状态的界面。

附图说明

由示例性实施方式的以下详细描述，本发明的有利实施方式的优点将是显而易见的。以下详细描述应连同附图考虑，其中：

图1示出用于自动RFID质量控制的示例性方法。

图2a示出用于自动RFID质量控制的系统的示例性配置界面。