[发明专利]射频同轴连接器电气性能测试装置

权利要求书

1.一种射频同轴连接器电气性能测试装置，包括插头（A）和插座（B）；所述插头（A）包括圆筒形的插头外导体（1）、插头内导体（2）和设置在所述插头外导体（1）与插头内导体（2）之间的插头绝缘子（3），所述插座（B）包括圆筒形的插座外导体（4）、插座内导体（5）和设置在所述插座外导体（4）与插座内导体（5）之间的插座绝缘子，所述插座外导体（4）的前端筒身上设有外螺纹（4a），在测试通讯器件电气性能时，所述插头外导体（1）、插头内导体（2）分别与插座外导体（4）、插座内导体（5）插接相连，其特征在于：在所述插头（A）上设有一个可将所述插座外导体（4）的外螺纹（4a）从径向同时锁紧的螺纹快速锁紧机构（C），所述螺纹快速锁紧机构（C）包括壳体（6）、锁紧套（7）和轴向弹簧（8）；所述壳体（6）、锁紧套（7）均呈圆筒形，在所述壳体（6）的前端筒身上沿径向开设有若干个通孔（6－1），在壳体（6）的后端筒身上沿轴向开设有若干个滑槽（6－2），在每个所述通孔（6－1）内安装有至少一个径向弹簧（6a）以及与所述径向弹簧（6a）相抵压的螺牙块（6b），所述螺牙块（6b）呈瓦形且在其内侧面上设有与插座外导体（4）的外螺纹（4a）相适配的内螺纹（6b－1），在螺牙块（6b）的外侧面上设有一个外锥斜面（6b－2），所述锁紧套（7）的前端内孔中设有一个与所述外锥斜面（6b－2）相适配的内锥斜面（7a），所述锁紧套（7）套装在所述壳体（6）的前端筒身上，且锁紧套（7）的内锥斜面（7a）与螺牙块（6b）的外锥斜面（6b－2）相抵，所述插头外导体（1）的后端筒身上沿径向设有数量与所述滑槽（6－2）相同的滑块（1a），所述插头（A）可前后运动地置于壳体（6）的内孔中，且插头外导体（1）的滑块（1a）与壳体（6）的滑槽（6－2）滑动连接，所述轴向弹簧（8）置于壳体（6）与锁紧套（7）之间，且轴向弹簧（8）的两端分别与锁紧套（7）的前端、插头外导体（1）的滑块（1a）相抵，所述螺纹快速锁紧机构（C）还包括保护套（9）和定位环（10）；所述保护套（9）呈圆桶形且其底板上开设有供插座（B）通过的穿孔（9a），所述保护套（9）固定安装在壳体（6）的前端筒身上，且锁紧套（7）位于壳体（6）与保护套（9）之间；所述定位环（10）呈圆环形且其固定安装在壳体（6）的内孔中，所述插头外导体（1）的前端筒身与定位环（10）的内孔滑动配合，所述定位环（10）的前端面（10a）与螺牙块（6b）的内螺纹（6b－1）后端面位于同一径向平面上，在每个所述通孔（6－1）的底部设有数量与所述径向弹簧（6a）相同的定位销（6c），在所述螺牙块（6b）上设有用于容纳径向弹簧（6a）的容置槽（6b－3），所述径向弹簧（6a）安装在定位销（6c）上且其上端面与容置槽（6b－3）的顶面相抵，在所述锁紧套（7）的后端内孔中还设有一个卡环（11），所述插头外导体（1）的滑块（1a）与卡环（11）相抵。

2.根据权利要求1所述的射频同轴连接器电气性能测试装置，其特征在于：所述壳体（6）的后端筒身固定安装在直线驱动机构的机体上，所述插头（A）与直线驱动机构的输出轴相连。

3.根据权利要求2所述的射频同轴连接器电气性能测试装置，其特征在于：所述直线驱动机构是气缸或者直线电机。