[发明专利]一种SSD开发性能的测试方法、装置及相关设备

说明书

本申请公开了一种SSD开发性能的测试方法，包括当接收到仿真host端发送的写命令和待写入数据时，根据所述写命令将所述待写入数据保存至数组，获得标准数据，并根据所述写命令将所述待写入数据写入SSD；当接收到所述仿真host端发送的读命令时，根据所述读命令对所述SSD进行读取获得读取数据；调取所述标准数据对所述读取数据进行验证，若验证失败，则发出错误提示；该测试方法可快速定位FTL算法中的bug，有效缩短了开发周期，进一步提高了SSD开发性能的测试效率。本申请还公开了一种SSD开发性能的测试装置、系统以及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

技术领域

本申请涉及数据存储技术领域，特别涉及一种SSD开发性能的测试方法，还涉及一种SSD开发性能的测试装置、系统、以及计算机可读存储介质。

背景技术

随着互联网的飞速发展，人们对数据信息的存储需求也在不断提升，由此衍生出各种各样的存储介质以实现对数据信息的存储，其中，SSD(Solid State Drives，固态硬盘)以其低功耗、体积小、无噪音以及较快的读写速度等性能优势脱颖而出，有着极为广泛的应用。

SSD一般是采用NAND Flash闪存芯片作为用于存储数据信息的存储介质，由于NAND Flash闪存芯片自身的固有特性，当对NAND Flash中的数据信息进行读写擦操作时，其对应的操作单位具有不一致性，因此，需要在NAND Flash上设置管理软件FTL(FlashTranslation Layer，闪存转换层)对数据信息的相关操作进行管理，因此，在SSD的开发阶段，FTL算法的设计对其工作性能有着较大的影响。

在传统的SSD开发过程中，一般是通过真实环境中的上位机host实现对SSD开发性能的测试，其主要作用在于发送读、写命令。然而，由于真实环境中host的特性丰富而复杂，很容易对其最终的测试结果产生一定的影响；并且，该种测试方式在实际实现过程中，FTL算法中存在的问题和不足难以被发现，导致其开发周期较长，从而大大降低了SSD开发性能的测试效率。

因此，如何快速定位FTL算法中的bug，有效缩短开发周期，进一步提高SSD开发性能的测试效率是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种SSD开发性能的测试方法，该测试方法可快速定位FTL算法中的bug，有效缩短了开发周期，进一步提高了SSD开发性能的测试效率；本申请的另一目的是提供一种SSD开发性能的测试装置、系统以及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

为解决上述技术问题，本申请提供了一种SSD开发性能的测试方法，所述测试方法包括：

硬盘固件根据基础电压读取硬盘数据，获得标准数据；

当接收到仿真host端发送的写命令和待写入数据时，根据所述写命令将所述待写入数据保存至数组，获得标准数据，并根据所述写命令将所述待写入数据写入SSD；

当接收到所述仿真host端发送的读命令时，根据所述读命令对所述SSD进行读取获得读取数据；

调取所述标准数据对所述读取数据进行验证，若验证失败，则发出错误提示。

优选的，所述根据所述写命令将所述待写入数据保存至数组，获得标准数据，包括：

根据预设压缩比例对所述待写入数据进行压缩，获得压缩数据；

将所述压缩数据保存至所述数组，获得所述标准数据。

优选的，所述数组根据所述预设压缩比例构建获得。

优选的，所述根据预设压缩比例对所述待写入数据进行压缩，获得压缩数据之后，还包括：

统计对所述待写入数据的压缩次数；

则所述将所述压缩数据保存至所述数组，包括：