[发明专利]一种全量程物体表面光谱反射率测试方法

权利要求书

1.一种全量程物体表面光谱反射率测试方法，其特征在于，该方法包括有以下步骤：

S1：确定归一系数：将100％反射率标定基准片放置在光谱仪的载物架上，测得该基准片的可见光区指定波长测试点的信号强度值E1n，并根据E1n推算出归一系数C1n；

S2：确定归低系数：将低反射率标定基准片放置在光谱仪的载物架上，测得该基准片可见光区指定波长测试点的信号强度值为Ekn，并根据Ekn推算出归低系数Ckn；

S3：测定工件实际的可见光区指定波长测试点的信号强度：将实际待测工件放置在光谱仪载物架上，并测得该实际待测工件可见光区指定波长测试点的信号强度值En；

S4：确定归标系数：定义W1是该指定波长测试点采信C1n的权重，定义Wk为该指定波长测试点采信Ckn的权重，且W1+Wk＝1；定义Eul为采信上限，定义Ell为采信下限，且0Ekn≤EllEulE1n；如EulEnE1n，则完全采信C1n，此时取W1＝1，Wk＝0；如Ell≤En≤Eul，此时取W1＝(En-Ell)/(Eul-Ell)，Wk＝(Eul-En)/(Eul-Ell)；如0EnEll；则完全采信Ckn，此时取W1＝0，Wk＝1；确定W1和Wk的取值后，根据Cn＝C1n*W1+Ckn*Wk，计算出归标系数Cn；

S5：计算待测工件指定波长的反射率Rn：利用Rn＝En*Cn计算出待测工件指定波长的反射率；

S6：生成光谱反射率曲线：连接所有Rn构成待测工件的光谱反射率曲线Rs。

2.如权利要求1所述的全量程物体表面光谱反射率测试方法，其特征在于，所述采信上限Eul为0.5-1倍E1n，所述采信下限Ell为1-2倍Ekn。

3.如权利要求1所述的全量程物体表面光谱反射率测试方法，其特征在于，所述S1：确定归一系数：将100％反射率标定基准片放置在光谱仪的载物架上，测得可见光区每个波长的信号强度值E1n，并根据E1n推算出归一系数C1n包括以下子步骤：

S11：选取合适的积分时间，将100％反射率标定基准片放置在光谱仪的载物架上；

S12：在光谱仪程序上读取可见光区指定波长测试点的信号强度值E1n；

S13：由C1n＝1/E1n推算出归一系数C1n。

4.如权利要求2所述的全量程物体表面光谱反射率测试方法，其特征在于，所述100％反射率标定基准片为全介质材料镀制的可见光区高反膜，其堆层数为60层。

5.如权利要求1所述的全量程物体表面光谱反射率测试方法，其特征在于，所述S2：确定归低系数：将低反射率标定基准片放置在光谱仪的载物架上，测得可见光区指定波长测试点的信号强度值为Ekn，并根据Ekn推算出归低系数Ckn包括以下子步骤：

S21：将低反射率标定基准片放置在光谱仪载物架上；

S22：在光谱仪程序上读取可见光区指定波长的的信号强度值Ekn；

S23：由Ekn*Ckn＝Rkn推算出归低系数Ckn。

6.如权利要求4所述的全量程物体表面光谱反射率测试方法，其特征在于，所述低反射率标定基准片为片状楔形K9玻璃；所述片状楔形K9玻璃的上表面为经精密研磨抛光的镜面表面，其下表面为粗磨加工的沙面表面，且下表面上均匀涂覆有黑色油墨。