[发明专利]CAN总线测试集成电路、测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种CAN总线测试集成电路，其特征在于，包括：输出电压测试电路，用于测试CAN总线的输出电压参数，所述输出电压参数包括：高位数据线的电压、低位数据线的电压及差分电压。

2.如权利要求1所述的CAN总线测试集成电路，其特征在于，所述输出电压测试电路包括：依次并联的第一支路、第二支路、第三支路及第四支路，所述第一支路的两端形成有第一单刀双掷开关接口(CANH)和低位数据线接口(CANL)，所述第四支路的两端形成有第一输出接口(M1)和第二输出接口(M2)；

其中，所述第一支路包括：第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第一电容(C1)、第二电容(C2)、第三电容(C3)、第一拨动开关(S1)及第一单刀三掷开关(S5)，所述第一拨动开关(S1)、所述第一电阻(R1)、所述第二电阻(R2)顺次串联；所述第一单刀三掷开关(S5)的不动端与所述第一电阻(R1)与所述第二电阻(R2)之间的连线连接，所述第一单刀三掷开关(S5)的动端选择性连接所述第一电容(C1)、所述第二电容(C2)或所述第三电容(C3)的一端，所述第一电容(C1)、所述第二电容(C2)和所述第三电容(C3)三者并联后接地；

所述第二支路包括：第三电阻(R3)、第四电阻(R4)、第四电容(C4)、第五电容(C5)、第六电容(C6)、第二拨动开关(S2)及第二单刀三掷开关(S6)，所述第二拨动开关(S2)、所述第三电阻(R3)、所述第四电阻(R4)顺次串联；所述第二单刀三掷开关(S6)的不动端与所述第三电阻(R3)和所述第四电阻(R4)之间的连线连接，所述第二单刀三掷开关(S6)的动端选择性连接所述第四电容(C4)、所述第五电容(C5)或所述第六电容(C6)的一端，所述第四电容(C4)、所述第五电容(C5)和所述第六电容(C6)三者并联后接地；

所述第三支路包括：第五电阻(R5)和第三拨动开关(S3)，所述第三拨动开关(S3)的一端与所述第二拨动开关(S2)连接，所述第三拨动开关(S3)的另一端与所述第五电阻(R5)串联，所述第五电阻(R5)的另一端与所述第二支路中第四电阻(R4)远离所述第三电阻(R3)的一端连接；

所述第四支路包括：第六电阻(R6)和第四拨动开关(S4)，所述第四拨动开关(S4)的一端与所述第二拨动开关(S2)连接，所述第四拨动开关(S4)的另一端与所述第六电阻(R6)串联，所述第六电阻(R6)的另一端与所述第二支路中第四电阻(R4)远离所述第三电阻(R3)的一端连接。

3.如权利要求1所述的CAN总线测试集成电路，其特征在于，还包括输入电阻测试电路，用于获得CAN总线的输入电阻参数，所述输入电阻参数包括：高位数据线的输入电阻、低位数据线的输入电阻及差分电阻；

所述输入电阻测试电路包括：第五拨动开关(S7)、第六拨动开关(S8)、第一单刀双掷开关(S9)、单刀六掷开关(S10)、第七电阻(R7)、第八电阻(R8)、第九电阻(R9)、第十电阻(R10)、第十一电阻(R11)及第十二电阻(R12)，所述第一单刀双掷开关(S9)的不动端处形成有第三输出接口(M3)；

其中，所述第七电阻(R7)、所述第八电阻(R8)、所述第九电阻(R9)、所述第十电阻(R10)、所述第十一电阻(R11)和所述第十二电阻(R12)六者并联后与所述第六拨动开关(S8)的一端连接，所述第六拨动开关(S8)的另一端形成低位数据线接口(CANL)；所述第五拨动开关(S7)的一端与所述第六拨动开关(S8)的一端连接，所述第五拨动开关(S7)的另一端形成有高位数据线接口(CANH)；所述第一单刀双掷开关(S9)的动端选择性连接所述第五拨动开关(S7)或所述第六拨动开关(S8)；所述单刀六掷开关(S10)的不动端处形成有电源接口(U)，所述单刀六掷开关(S10)的动端选择性连接第七电阻(R7)、第八电阻(R8)、第九电阻(R9)、第十电阻(R10)、第十一电阻(R11)或第十二电阻(R12)。

4.如权利要求3所述的CAN总线测试集成电路，其特征在于，所述输入电阻测试电路获得CAN总线的输入电阻参数过程包括测试不含终端和含有终端两种情况。