[发明专利]一种估计电子件可靠性参数的方法

说明书

本发明公开了一种估计电子件可靠性参数的方法，包括以下步骤：步骤一：确定候选的寿命分布参数，根据已有电子件可靠性数据分布规律，初步确定待估计电子件寿命均值参数的下限值μ_min和上限值μ_max，在确定的参数区间内，等间隔生成n个候选分布参数，其中，候选分布参数中，相邻参数之间的步长相等为d1，根据待测电子件均值参数的步长依次计算出n个候选均值参数μ_j，其中1≤j≤n；步骤二：遍历寿命均值参数μ_j计算似然值L_j，寻找最大似然值记为L_M，则最大似然值L_M对应的寿命分布参数μ_M即为均值参数的估计值。本发明利用“少量的可靠性试验数据+在产品研制、生产、使用等阶段产生的大量数据”，估算产品寿命的分布规律。

技术领域

本发明属于可靠性测试技术领域，特别涉及一种估计电子件可靠性参数的方法。

背景技术

可靠性是描述产品质量的核心属性，通常用寿命的分布规律(分布类型和参数)来定量描述可靠性。理论上，针对产品开展大量的可靠性试验，可以获得足够数量的产品寿命数据，然后可采用成熟的数理统计方法来估计出产品寿命的分布类型和参数。但在实际工作中，针对产品开展大量可靠性试验，往往意味着高昂的经济成本和漫长的试验耗时，因此更常见的做法是利用“少量的可靠性试验数据+在产品研制、生产、使用等阶段产生的大量数据”，估算产品寿命的分布规律。在产品的可靠性试验中，一般配备有专门的在线检测设备，用于实时监测产品的完好性状态，及时记录产品的故障时刻，因此可以获得产品寿命的数值。但在产品研制、生产、使用等这些非可靠性试验场景下，不一定配备有专门的在线检测设备，只能定期或不定期地对产品进行完好性检查，因而不能准确获知产品的故障时刻，也就无法获得寿命的数值信息。

发明内容

为了克服背景技术中存在的缺陷，本发明提供一种估计电子件可靠性参数的方法。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案为：一种估计电子件可靠性参数的方法，包括以下步骤：

步骤一：确定候选的寿命分布参数，根据已有电子件可靠性数据分布规律，初步确定待估计电子件寿命均值参数的下限值μ_min和上限值μ_max，在确定的参数区间内，等间隔生成n个候选分布参数，候选分布参数中，相邻参数之间的步长相等为d1，根据待测电子件均值参数的步长依次计算出n个候选均值参数μ_j，其中1≤j≤n；

步骤二：遍历寿命均值参数μ_j计算似然值L_j，对于每个寿命均值参数μ_j，针对一组包含m个电子元件检测信息的数据组，根据第i个检测信息所包含的在T_i时刻的状态信息F_i确定其对应的计算系数W_i，依据m个检测数据不断迭代更新似然值L_j，迭代之初，设定每个候选参数对应的似然值初始值为0，在每个候选参数所对应的迭代完毕后的似然值中，寻找最大值即L_M，则最大似然值L_M对应的寿命分布参数μ_M即为均值参数的估计值。

在上述方案中，所述步骤一中均值参数μ_j和步长d1的具体计算过程如下：

其中，μ_max表示指数分布的均值参数上限，μ_min表示指数分布的均值参数下限，n为正整数，且n≥2。

在上述方案中，所述步骤二中W_i和似然值L_j的计算公式如下：