[发明专利]数显楔形塞尺、平整度试验方法及缝隙大小试验方法

权利要求书

1.一种数显楔形塞尺，包括相互连接的手柄和楔形尺体，以及带有刻度的标尺，其特征在于：所述标尺上活动连接有适于数显数字的数显组件；所述数显组件与所述标尺滑动连接，并设有适于紧固的紧固螺丝。

2.根据权利要求1所述的数显楔形塞尺，其特征在于：所述标尺设置于所述手柄的一侧，所述数显组件的底部连接有与所述楔形尺体底部持平的活动测头，所述数显组件随所述活动测头移动而移动；当所述数显组件处于初始0位时，所述数显组件数显数字为0.00mm，所述活动测头远离所述数显组件的一端与所述楔形尺体的尖端顶部持平。

3.根据权利要求1所述的数显楔形塞尺，其特征在于：所述标尺设置于所述楔形尺体上。

4.一种平整度试验方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1：检测时，根据需要确定的检测方向，将三米直尺水平摆在测试地点的面上；

S2：目测三米直尺底面与面之间的间隙情况，确定最大间隙的位置；

S3：用如权利要求1-4任一项所述的数显楔形塞尺塞进间隙处，量测其最大间隙的高度(mm)；精确至0.2mm；

S4：检测平整度的计算，以最大间隙为测定结果；连续测定10尺时，判断每个测定值是否合格，并计算合格百分率和10个最大间隙的平均值；

S5：报告，检测的结果应随时记录测试位置及检测结果；连续测定10尺时，报告平均值、不合格尺数、合格率。

5.一种缝隙大小试验方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1：测量前将如权利要求1-4任意一项所述的数显楔形塞尺的数显组件滑动到大于被测间隙部分；

S2：将塞尺插入被测间隙，手推数显组件，当数显组件的端面与间隙面接触无法前推，拧紧紧固钉；

S3：将所述的数显楔形塞尺拿出，数显读数即为被测间隙大小；

S4：测量完毕后，将紧固螺丝松开，将所述数显组件滑倒0位；

S5：装盒保存。