[发明专利]一种X射线衍射全极图测试锆合金中科恩系数的方法在审
申请号: | 201811091058.6 | 申请日: | 2018-09-19 |
公开(公告)号: | CN109187607A | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 李阁平;李明远;韩福洲;刘承泽;袁福森;张英东;顾恒飞;穆罕默德·阿里;郭文斌 | 申请(专利权)人: | 中国科学院金属研究所 |
主分类号: | G01N23/207 | 分类号: | G01N23/207 |
代理公司: | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人: | 崔晓蕾 |
地址: | 110015 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 锆合金 测试 表征材料 宏观区域 机械抛光 技术测试 技术观察 晶粒取向 镜面效果 取样测试 轧制面 磨光 标样 基面 微区 衍射 制样 平行 切割 清洗 | ||
本发明的目的在于提供一种X射线衍射分析技术测试锆合金中科恩系数的方法,具体步骤为:(1)制样,取样测试面与轧制面平行,并标记好样品的方向;(2)将切割好的样品进行磨光;(3)机械抛光,达到表面产生镜面效果为止;(4)清洗样品并干燥;(5)采用X射线衍射分析技术观察,得到样品的X射线衍射极图;(6)根据样品的X射线衍射极图获得相应方位对应的衍射强度值,通过积分得到三个方向上的基面科恩系数。此方法测试速度快,可以在已有锆合金标样的情况下,测试得到材料宏观区域的科恩系数,解决了目前EBSD技术只能表征材料微区晶粒取向的问题。
技术领域
本发明属于锆合金性能测试技术领域,具体涉及一种X射线衍射全极图测试锆合金中科恩系数的方法。
背景技术
织构对锆合金中的氢化物的取向有重要的影响,而且其还与合金的力学性能、辐照性能以及腐蚀性能之间存在联系。因此,对于锆合金的织构的测试与加工过程中的控制非常重要。科恩系数(Kearns factor)是相关科研工作者定义的一个指数,用以描述锆合金以及其它密排六方金属中织构信息。科恩系数可以定量的给出密排六方晶体基轴c,即基面在不同方向上的体积分数。通过织构信息,可以对材料加工过程进行相应的调整,从而改善材料性能。目前,测试锆合金科恩系数的方法主要是通过电子背散射衍射分析技术(EBSD),但是采用EBSD的方法具有很大的局限性,首先其对于样品的质量要求很高,要求表明无应力残留。这就需要相关科研工作者通过电解腐蚀、振动抛光以及离子刻蚀的方法去除样品表面的应力层,这些方法不仅对操作者技术要求较高,而且增加了很多成本投入。另外,由于相关设备的限制,EBSD方法只能测试微观区域的织构信息(一般单词测试区域约为1平方毫米),这对于工程上合金的应用显然不合理。
X射线衍射(XRD)极图法测试科恩系数技术,是通过XRD极图提供的数据获取材料科恩系数的一种计算方法。采用此方法测试材料织构的优点主要是可获取宏观区域的晶粒取向(一般可以测试400平方毫米面积的材料织构信息),XRD方法适合对材料整体的织构信息进行测量,得到一个宏观织构的统计值,能够较为全面的反映材料所有不同织构信息。另外,此方法制样要求低,可以不需要电解腐蚀,只需要对样品表面进行简单的打磨以及机械抛光即可以用以试验,并快速获取材料的织构信息。
发明内容
本发明的目的在于提供一种X射线衍射分析技术测试锆合金中科恩系数的方法,此方法测试速度快,可以在已有锆合金标样的情况下,测试得到材料宏观区域的科恩系数,解决了目前EBSD技术只能表征材料微区晶粒取向的问题。
本发明技术方案如下:
一种X射线衍射全极图测试锆合金中科恩系数的方法,其特征在于,具体步骤如下:
(1)制样,利用线切割设备对要分析的样品取样,样品尺寸:轧制方向为Y方向,尺寸为10-22mm,横向为X方向,尺寸为10-20mm,Z方向取样品厚度(样品厚度不能大于15mm),即取样测试面与轧制面平行,并标记好样品的方向,所述轧制面为X、Y方向构成的表面;
(2)将步骤(1)中的切割好的样品依次经过150#、320#、800#、2000#砂纸进行磨光,磨制的过程用力要尽量轻而且均匀,以保证样品表面不引入新的织构;
(3)对步骤(2)中磨光的样品进行机械抛光,达到表面产生镜面效果为止;
(4)依次用清水和无水乙醇将样品清洗干净,并干燥;
(5)采用X射线衍射分析技术观察,得到样品的极图:其原理是将X射线探测器置于符合布拉格方程的2θ位置上,样品围绕入射点做空间旋转,使所有方位的晶粒都陆续进入衍射方位,从而被探测器检测到,测量出其衍射强度;如果样品中存在织构,衍射强度会随着样品的方位而变化,由于衍射强度会正比于发生衍射晶面的极点密度;将强度分为不同的等级,按照其相应的方位标在极射赤面投影图上,从而得到样品的X射线衍射极图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院金属研究所,未经中国科学院金属研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811091058.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。