[发明专利]一种封闭式电喷雾萃取电离源装置

说明书

本发明提供一种封闭式电喷雾萃取电离源装置，包括综合接口组件、电喷雾调节模块、样品喷雾调节模块、待测气体引入套件、离子源、摄像头以及用于固定上述各部件的腔体，腔体为封闭的中空框架结构，电喷雾调节模块和样品喷雾调节模块分别安装在主体框架的第一侧面和第二侧面上且对称设置，离子源封闭于腔体的腔室内，质谱仪进样口与腔体的腔室相连通；摄像头分别安装在腔体的上部和电喷雾调节模块上。本发明装置采用封闭式结构，离子源位于密封腔体的腔室内，离子源或气体进样组件的旋转运动不会造成离子源尖端或气体进样组件的头部平移，实现离子源或气体进样组件的大角度调节；外部环境对电离的影响小，该装置稳定性高，尤其适用于气体成分检测。

技术领域

本发明涉及电喷雾萃取电离源装置，具体涉及一种既可用于常规物质检测、又能用于气体成分检测的封闭式电喷雾萃取电离源装置。

背景技术

电喷雾萃取电离(Extractive Electro-Spray Ionization，EESI)质谱(MassSpectrometry，MS)分析技术是一种现代电离质谱技术，具有无需对样品作复杂预处理即可获得待测物的相对分子质量和结构信息的特点，特别地，该技术可以对高水分含量的气溶胶样品进行直接分析，因此对空气、人体呼出气体等气体样品的成分检测具有独特优势，近年来成为研究热点。EESI源是EESI-MS技术的核心，主要由电喷雾通道和样品喷雾通道构成。研究表明，实验中，外部环境、电离电压、气体/液体流速、EESI源和质谱仪进样口之间的空间位置与角度关系等因素，对质谱分析信号有显著的影响。

然而，由于EESI源和质谱仪进样口之间的空间位置与角度调节的复杂性，现有装置一般为敞开式结构，无法对整个电离过程进行封闭隔离，虽然使用方便、成本低廉，但是EESI源受外部环境的影响较大，综合性能差，特别是对气体样品进行检测时，这种外部环境的影响尤其大；并且现有的调节装置在调节EESI源的角度时，EESI源的转动往往会造成ESSI源的尖端平移偏离预定的位置，因而现有的调节装置有效调节角度范围较小，无法满足ESSI源在一些场合下大角度调节的需求；也有的实验装置是在商用仪器基础上改装而成的，稳定性、重复性差，或者布局不合理，不利于排污，易污染质谱仪，严重限制了EESI-MS技术的应用与发展。

授权公告号为CN 104008949B的发明专利提供一种用于电喷雾萃取电离源的可调装置，该装置设置有X、Y、Z三方向的调节机构和旋转部件，能够调节电喷雾通道喷头、样品通道喷头与质谱仪进样口的角度和距离，其不足之处在于，该装置为敞开式结构，无法对整个电离过程进行封闭隔离，电离过程受外界影响大，对气体样品的检测影响尤其大；电喷雾通道喷头与样品通道喷头设置在下部连接板上且左、右布置，下部未设置排污结构，不利于排污，易污染质谱仪，并且电喷雾通道喷头与样品通道喷头在水平方向上旋转时，喷头尖端偏离预定位置，角度调节范围小。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供一种布局紧凑、配置灵活、使用方便的封闭式电喷雾萃取电离源，其能够减小外部环境对电离过程的影响，既可用于检测常规物质，还可用于气体成分检测。

本发明的上述目的是由以下技术方案来实现的：

一种封闭式电喷雾萃取电离源装置，包括用于安装质谱仪的综合接口组件(1)、、电喷雾调节模块(3)和样品喷雾调节模块(4)以及一用于固定综合接口组件(1)、电喷雾调节模块(3)和样品喷雾调节模块(4)的腔体(2)，腔体(2)为封闭的中空框架结构，包括主体框架(21)以及分别安装在主体框架(21)的上面、下面、前面、后面、第一侧面、第二侧面的上盖组件(22)、下盖组件(25)、综合接口组件(1)、后盖组件(26)、第一侧盖组件(23)和第二侧盖组件(24)形成的封闭式腔室，电喷雾调节模块(3)和样品喷雾调节模块(4)分别安装在主体框架(21)的第一侧面和第二侧面上且对称设置，安装在电喷雾调节模块(3)和/或样品喷雾调节模块(4)上的离子源(5)封闭于腔体(2)的腔室内，质谱仪进样口与腔体(2)的腔室相连通。