[发明专利]一种肖特基二极管及制作方法在审

专利信息
申请号: 201811093071.5 申请日: 2018-09-19
公开(公告)号: CN109326568A 公开(公告)日: 2019-02-12
发明(设计)人: 马志勇;孟鹤;田振兴;吴勐;杨旭;刘啸尘;赵纯 申请(专利权)人: 吉林麦吉柯半导体有限公司
主分类号: H01L23/29 分类号: H01L23/29;H01L23/31;H01L29/872;H01L21/329;H01L21/56
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 黄彩荣
地址: 132000 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 金属层 氧化层 肖特基二极管 势垒层 聚酰亚胺层 磷硅玻璃层 氮化硅层 依次设置 背面层 源区 半导体晶圆 制作
【权利要求书】:

1.一种肖特基二极管,其包括PN结、背面层、势垒层、金属层和氧化层,所述氧化层和所述背面层分别设置在所述PN结的两端,所述氧化层具备有源区窗口,所述势垒层和所述金属层依次设置在所述有源区窗口,且所述PN结、所述势垒层和所述金属层依次相互连接,其特征在于,包括:

磷硅玻璃层、氮化硅层和聚酰亚胺层;

所述磷硅玻璃层设置在所述金属层与所述氧化层之间;

所述氮化硅层和所述聚酰亚胺层依次设置在所述金属层远离PN结的一侧。

2.根据权利要求1所述的肖特基二极管,其特征在于:

所述氧化层的有源区窗口包括第一台阶段和第二台阶段;

所述第一台阶段从所述氧化层的远端延伸至所述氧化层的内壁;

所述第二台阶段从所述氧化层的内壁延伸至有源区窗口的底部;

所述磷硅玻璃层设置在第一台阶段。

3.根据权利要求2所述的肖特基二极管,其特征在于:

所述磷硅玻璃层均布在所述氧化层的远端和所述第一台阶段的内壁;

且所述磷硅玻璃层与所述氧化层的宽度相等。

4.根据权利要求1所述的肖特基二极管,其特征在于:

所述氮化硅层的一侧分别与所述金属层、所述磷硅玻璃层连接;

所述聚酰亚胺层仅与所述氮化硅层连接。

5.根据权利要求4所述的肖特基二极管,其特征在于:

所述氮化硅层具备相对的L形台阶和L形开口;

所述L形开口与所述金属层卡接,所述L形台阶与所述聚酰亚胺层连接。

6.根据权利要求5所述的肖特基二极管,其特征在于:

所述聚酰亚胺层包括L形凸起;

所述L形凸起与所述L形台阶嵌合。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的肖特基二极管,其特征在于:

所述聚酰亚胺层设置有第一开口,所述氮化硅层设置有第二开口;

所述第一开口与所述第二开口相互贯通;

所述第二开口延伸至所述金属层表面;

所述第一开口与所述第二开口共同形成焊接窗口。

8.根据权利要求7所述的肖特基二极管,其特征在于:

所述第一开口与所述第二开口内径相同。

9.根据权利要求8所述的肖特基二极管,其特征在于:

所述第一开口的内径小于所述有源区窗口。

10.一种肖特基二极管的制作方法,其特征在于:

所述肖特基二极管的制作方法包括至少如下步骤:

在半导体功率器件的硅衬底的表面生长氧化层,对所述氧化层进行光刻和刻蚀形成有源区窗口,通过粒子注入向硅衬底进行掺杂并通过高温推结形成PN结;

在所述氧化层及其所在平面上淀积磷硅玻璃形成磷硅玻璃层,并对磷硅玻璃层进行光刻和刻蚀形成接触孔;

在所述磷硅玻璃层上淀积势垒层,所述势垒层向下填入所述接触孔且与所述硅衬底的有源区接触,并通过真空合金形成势垒;

在所述势垒层上淀积金属层,并对所述金属层进行光刻和刻蚀形成金属电极;

在所述金属层上顺次淀积氮化硅、聚酰亚胺,以形成包括氮化硅层、聚酰亚胺层的钝化层;并对所述钝化层进行光刻和刻蚀形成焊接窗口。

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