[发明专利]一种硅片自动化加工用下料装置在审
申请号: | 201811094387.6 | 申请日: | 2018-09-19 |
公开(公告)号: | CN109273393A | 公开(公告)日: | 2019-01-25 |
发明(设计)人: | 周建明 | 申请(专利权)人: | 常山千帆工业设计有限公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/68 |
代理公司: | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 | 代理人: | 陈娟 |
地址: | 324200 浙江省衢州市常*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 抛光工位 硅片抛光 硅片 导料板 抛光盘 自动化加工 硅片原料 下料装置 旋转电机 托盘 下料传送机构 传送带端部 下料传送带 连接固定 升降气缸 装置实现 传送带 下料 背面 自动化 贯穿 加工 | ||
本发明涉及一种硅片自动化加工用下料装置,包括硅片原料传送带,硅片原料传送带端部设有倾斜的导料板,导料板的下方设有硅片抛光机构,硅片抛光机构的一侧设有硅片成品下料传送带,所述硅片抛光机构与导料板之间设有下料传送机构,所述硅片抛光机构包括抛光盘,抛光盘的背面连接第一旋转电机,第一旋转电机的尾部连接固定的升降气缸;抛光盘的下方设有抛光工位盘,抛光工位盘上设有多个抛光工位槽,抛光工位槽贯穿抛光工位盘,抛光工位盘的下方设有托盘,托盘的表面与抛光工位盘的底部接触。该装置实现了硅片的加工以及下料的自动化。
技术领域
本发明涉及硅片加工领域,尤其是一种硅片自动化加工用下料装置。
背景技术
硅原料属于重要的半导体材料,化学元素符号Si,电子工业上使用的硅应具有高纯度和优良的电学和机械等性能。硅是产量最大、应用最广的半导体材料,它的产量和用量标志着一个国家的电子工业水平,硅原料在进行硅片加工时需要将硅块原料进行均匀筛选,然后通过上料机构上料并将硅块原料导入到硅片加工设备内,硅片的加工工序包括开方、切割、研磨、抛光、清洗,硅片原料被切割完成后需要进行等厚度抛光,现在的硅片加工设备在进行硅片抛光时无法达到等厚度抛光的效果,而且硅片抛光后都是逐个下料,下料效率低。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术存在的缺陷,提供一种硅片自动化加工用下料装置。
为了实现上述目的,本发明采用的技术方案是:
一种硅片自动化加工用下料装置,包括硅片原料传送带,硅片原料传送带端部设有倾斜的导料板,导料板的下方设有硅片抛光机构,硅片抛光机构的一侧设有硅片成品下料传送带,所述硅片抛光机构与导料板之间设有下料传送机构,所述硅片抛光机构包括抛光盘,抛光盘的背面连接第一旋转电机,第一旋转电机的尾部连接固定的升降气缸;
所述抛光盘的下方设有抛光工位盘,抛光工位盘上设有多个抛光工位槽,抛光工位槽贯穿抛光工位盘,抛光工位盘的下方设有托盘,托盘的表面与抛光工位盘的底部接触,托盘的下方设有横向折板,横向折板上设有第二旋转电机,托盘的中部设有通孔,第二旋转电机的电机轴穿过通孔与所述抛光工位盘连接,横向折板上固定伸缩气缸,伸缩气缸的气缸杆与托盘的底部连接。
上述的一种硅片自动化加工用下料装置,所述下料传送机构包括位于所述导料板下方的振动盘,振动盘上连接导料轨,导料轨的端部与所述抛光工位盘上的抛光工位槽对应。
上述的一种硅片自动化加工用下料装置,横向折板的端部铰接纵向固定板,纵向固定板上设有斜置气缸,斜置气缸的气缸杆与所述横向折板连接。
上述的一种硅片自动化加工用下料装置,所述抛光工位盘上位于抛光工位盘槽的端口处设有硅片导入口。
上述的一种硅片自动化加工用下料装置,所述第二旋转电机为伺服电机。
上述的一种硅片自动化加工用下料装置,多个抛光工位槽在抛光工位盘上环向均匀排布。
上述的一种硅片自动化加工用下料装置,原料硅片的厚度大于所述抛光工位槽的深度。
上述的一种硅片自动化加工用下料装置,所述硅片导入口的宽度大于原料硅片的宽度。
本发明的有益效果为:该装置实现了硅片的加工以及下料的自动化,硅片抛光机构包括抛光盘,抛光盘的背面连接第一旋转电机,第一旋转电机的尾部连接固定的升降气缸;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常山千帆工业设计有限公司,未经常山千帆工业设计有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811094387.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种晶片传送装置
- 下一篇:二极管芯管的铝料条转料装置
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造