[发明专利]一种大型紧耦合阵列有源驻波的快速评估方法

权利要求书

1.一种大型紧耦合阵列有源驻波的快速评估方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1，根据具体的天线形式及布阵形式的波长系数典型值计算大型紧耦合阵列对应的最小特征阵的规模，其中最小特征阵是指反映大型紧耦合阵列性能的最小规模阵列；

步骤2，在电磁仿真软件中建立最小特征阵模型，然后对最小特征阵进行全波仿真，得到各个阵元的有源驻波；并对大型紧耦合阵列中的任一单元天线设置周期边界，仿真得到其驻波；其中，最小特征阵模型中的单元天线形式、阵元间距及布阵形式均与大型紧耦合阵列相同；

步骤3，对最小特征阵规模进行验证，若验证符合要求，则转入步骤4，否则，调整波长系数，转入步骤1；

步骤4，将大型紧耦合阵列的边缘阵元性能分别与最小特征阵中相应位置的阵元性能进行等效，将大型紧耦合阵列的中心阵元性能均与周期边界阵元性能进行等效，得到大型紧耦合阵列中各个阵元的有源驻波；

完成大型紧耦合阵列有源驻波的快速评估。

2.如权利要求1所述的大型紧耦合阵列有源驻波的快速评估方法，其特征在于，步骤1中波长系数典型值根据具体的天线形式及布阵形式选取范围为0.8～1.5。

3.如权利要求1所述的大型紧耦合阵列有源驻波的快速评估方法，其特征在于，步骤3中对最小特征阵规模进行验证，具体为：

对比最小特征阵的中心阵元有源驻波是否与设置的周期边界的阵元驻波相符。