[发明专利]基于小波域相位提取的缺陷检测方法及检测装置

权利要求书

1.一种基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)设置同轴相衬成像参数，所述成像参数包括光源到待成像物体的距离L1、待成像物体到探测器的距离L2；

(2)设置放射成像系统的曝光参数，获得所述放射成像系统的系统点扩散函数h(x，y)及其曲线，其中，x，y是空间位置坐标；

(3)放置待成像物体，并在所述成像参数、所述曝光参数条件下对所述待成像物体成像，获得成像结果I_N(x，y)，其中，x，y是空间位置坐标；

(4)根据所述成像结果I_N(x，y)、所述系统点扩散函数h(x，y)对归一化相衬图像g(I)进行变换，获得所述归一化相衬图像g(I)的相位抽取结果；

(5)根据所述相位抽取结果，计算得到所述待成像物体的相位信息图像；

其中，对步骤(4)中的所述归一化相衬图像进行小波变换。

2.如权利要求1所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤(4)还包括：

设定小波变换尺度，通过所述小波变换，获得各个小波子带的小波系数图像。

3.如权利要求2所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤(4)还包括：

根据所述小波系数图像，对所述各个小波子带进行相位抽取，获得所述各个小波子带的相位抽取结果。

4.如权利要求3所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤(4)还包括：

对所述所有小波子带的所述相位抽取结果进行小波逆变换，获得相衬图像的相位抽取结果。

5.如权利要求4所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于：

所述归一化相衬图像g(I)为通过所述小波变换，获得各个小波子带的小波系数图像其中，a，b∈{L，H}，分别表示水平、垂直、对角和概貌小波系数，J为所述小波尺度。

6.如权利要求5所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于：

采用公式对各个所述小波子带进行所述相位抽取；其中，由各个小波子带的信噪比决定；MTF(u，v)为所述系统点扩散函数h(x，y)的傅里叶变换；*号表示求共轭复数；α表示松弛因子，根据所述待成像物体的组成成份进行估计；u、v分别为横轴和纵轴方向的空间频率，λ为所述光源发射的X射线波长。

7.如权利要求6所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤(1)还包括：

设置所述光源到所述待成像物体的所述距离L1为200cm，所述待成像物体到所述探测器的所述距离L2为100cm。

8.如权利要求7所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤(2)还包括：

通过放置刀口器具在所述待成像物体的平面位置，连续采集m幅图像，从每幅所述图像获取不同位置的刀口截面曲线n条，而后将m*n条所述刀口截面曲线进行平均，再对平均曲线求导数，获得所述放射成像系统的系统点扩散函数h(x，y)及其曲线。

9.如权利要求8所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，m为15，n为50。

10.如权利要求1所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，所述待成像物体采用气泡裂纹仿体。