[发明专利]一种灰阶测试卡的灰阶自动分割与分析方法

权利要求书

1.一种灰阶测试卡的灰阶自动分割与分析方法，其特征在于，包括以下步骤

S1：使用待评测设备拍摄灰阶测试卡，保存拍摄图像并传输至处理单元；

S2：处理单元对拍摄图像进行Lab变换，并统计ab空间的平均能量，当平均能量大于或等于N时，认为S1中待评测设备所拍摄的灰阶测试卡是36阶灰阶测试图卡，并转入步骤S3；小于N时，认为S1中待评测设备所拍摄的灰阶测试卡是20阶灰阶测试图卡，并转入步骤S4；

S3：对36阶灰阶测试图卡的各灰阶块的位置坐标进行计算，具体的，包括以下步骤：

S31：对拍摄图像的RGB3通道进行相加求均值，得到拍摄图像的均值图像；

S32：将拍摄图像RGB3通道中每个通道图像分别与步骤S31中得到的均值图像相减，共得到三个结果后，并把三个结果相加，得到图像；

S33：将步骤S32得到的图像利用大津法进行二值化，之后设置结构元素进行开运算，删除不能包含结构元素的区域，断开狭窄连接，最终得到拍摄图像中各彩色区域的具体坐标；

S34：通过36个待分割灰阶块与各彩色区域的相对位置关系，得到各灰阶块的位置坐标，并进入步骤5；

S4：对20阶灰阶测试图卡的各灰阶块的位置坐标进行计算，具体的，包括以下步骤：

S41：求取拍摄图像中最亮区域灰度值，并基于不同灰阶测试图卡中色块灰度值不同的先验知识，确定S1中待评测设备所拍摄的20阶灰阶测试图卡是否为中间带栅格标识的20阶图卡；若是，则进行S42～中的自动分割算法，否则算法不匹配无法自动分割，算法失效；

S42：将拍摄图像转为灰度图，然后进行复制缩小得到缩小图，以便加快后续分割计算速度；

S43：对灰度图和缩小图进行旋转校正，保证栅格区域出现在缩小图的一特定部位；

S44：对缩小图的一特定部位逐行进行傅里叶变换，得到该特定部位中拥有高频细节信息的区域，并使用大津法对该特定部位进行二值化，并进行膨胀腐蚀的形态学处理，最终得到栅格区位于缩小图上的具体位置坐标；

S45：通过20个待分割灰阶块与栅格区的相对位置关系，得到各灰阶块的位置坐标；

S46：将缩小图上得到的各灰阶块的坐标，映射回原灰度图上坐标进行灰阶分割，并进入步骤S5；

S5：利用分割得到的各个灰阶块图像进行噪声评估和动态范围估计。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S2中N的取值范围为5*(10^7)～8*(10^9)。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S33中的结构元素为半径R的平面圆盘，2R10。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S43和S44中的一特定部位为缩小图的上半部。