[发明专利]基于反编译开发的高通方案无线校准测试系统和方法在审

专利信息
申请号: 201811106016.5 申请日: 2018-09-21
公开(公告)号: CN109347575A 公开(公告)日: 2019-02-15
发明(设计)人: 王海 申请(专利权)人: 太仓市同维电子有限公司
主分类号: H04B17/11 分类号: H04B17/11;H04B17/21;G06F8/53
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 刘黎明
地址: 215400 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 高通 编译 功分器 校准测试系统 仪表 测试电脑 解析 测试 测试效率 产品功率 可编辑性 可扩展性 内置测试 无线终端 校准测试 依次连接 冗余 校准 开发 自动化 电脑
【说明书】:

发明公开了一种基于反编译开发的高通方案无线校准测试系统和方法,包括安装有自动化产测平台ATE_Release、反编译Reflector解析环境的测试电脑;包括IQxel或WT208仪表;包括功分器;所述测试电脑、所述IQxel或WT208仪表、所述功分器依次连接后,由功分器分别连接至DUT上。本发明基于一台IQxel或者WT208仪表和一台电脑(内置测试平台),基于高通最新的QSPR的API库,结合反编译解析工具,开发自研的高通校准测试程序,即可实现众多无线终端产品功率校准和测试。降低了程序冗余,增强了程序的可扩展性,可编辑性,极大地提高了测试效率,降低了测试重测率。

技术领域

本发明涉及通信类电子产品的生产制造领域,具体涉及一种基于反编译开发的高通方案无线校准测试系统和方法。

背景技术

行业内高通Qdart方案的校准测试程序一直依赖于设备商提供的产测程序,以供工厂生产使用。这样带来的问题是可维护性差、可扩展性也较差,而且设备商提供的测试程序非常冗余,测试效率也不高,重测率也较高。因此非常有必要开发自研高效的校准测试程序。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于反编译开发的高通方案无线校准测试系统和方法,解决了现有的测试方法在测试高通Qdart方案时,测试过程复杂冗余,测试效率不高,重测率高的问题。

为解决上述的技术问题,本发明采用以下技术方案:

一种基于反编译开发的高通方案无线校准测试系统,包括安装有自动化产测平台ATE_Release、反编译Reflector解析环境的测试电脑;包括IQxel或WT208仪表;包括功分器;所述测试电脑、所述IQxel或WT208仪表、所述功分器依次连接后,由功分器分别连接至DUT上。

进一步的技术方案是,所述IQxel或WT208仪表所配的射频线和扣线均还有两根以上,所述功分器的的数量也在两个以上,IQxel或WT208仪表通过两根以上的射频线分别连接至两个以上的功分器。

进一步的技术方案是,所述功分器通过扣线连接至DUT的AP模块。

一种基于反编译开发的高通方案无线校准测试方法,其特征在于包括以下步骤:

S1.通过反编译器,编译解析代码,并通过转换开发语言,嵌入到自动化测试平台中;

S2.借助于Reflector解析出高通官方测试工具QSPR中的QMSL模块中的关于校准和测试部分(就是包含了一些列的校准测试步骤,比如频偏校准、TX、RX测试、功率校准等等)的函数的调用,参数传递、数据控制过程,并且将其C#语言转换为C++语言;

S3.将上述针对每一个校准和测试过程所解析出来的C++代码进行备份,通过C逻辑开发成为相应的函数调用模块,供平台层计算调用;

S4.加载测试,进行Loss检查,统计对象生成,算法生成等操作;

S5.插入DUT,加载与DUT通信的dll文件,同时DUT开启的Qcmbr服务的IP和端口,格式IP:Port,从变量池获取对应的值替换成使用%ip%变量的表示IP;

S6.初始化,加载boardData文件;

S7.频偏校准;

S8.RX校准,提供仪器控制的回调函数,以烧录的方式控制RX校准过程;

S9.功率校准,提供仪器控制的回调函数,以烧录的方式控制TX校准过程;

S10.功率验证;

S11.RX验证;

S12.写值。

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