[发明专利]阻抗测量系统和阻抗测量方法

权利要求书

1.一种阻抗测量系统，具备多个对测量对象的试样分别供给规定频率的测量用交流电的阻抗测量仪，所述阻抗测量系统的特征在于，

相邻的阻抗测量仪所供给的测量用交流电的相位为反相位；并且

当所述阻抗测量仪为奇数时，将中央的阻抗测量仪的邻旁的阻抗测量仪的测量仪用交流电形成为反相位，其中，将所述中央的阻抗测量仪输出规定频率的测量用交流电，所述邻旁的阻抗测量仪使各自的测量用交流电错开半波长并供给至测量对象的试样。

2.如权利要求1所述的阻抗测量系统，其特征在于，

所述阻抗测量仪是同步检波阻抗测量仪，该同步检波阻抗测量仪具备：

供给所述测量用交流电的测量用交流源，

生成与所述测量用交流电同步的基准信号的基准信号生成部，

以所述基准信号对所述试样中出现的检测信号进行同步检波的同步检波部，以及

使同步检波后的信号通过的低通滤波器。

3.一种阻抗测量方法，其从多个阻抗测量仪对各测量对象的试样供给规定频率的测量用交流电，并以与所述测量用交流电同步的基准信号对所述试样中出现的检测信号进行同步检波，提取同步检波后的信号的直流分量并测量所述试样的交流阻抗，所述阻抗测量方法的特征在于，

使相邻的阻抗测量仪所产生的测量用交流电的相位呈反相位；并且

当所述阻抗测量仪为奇数时，将中央的阻抗测量仪的邻旁的阻抗测量仪的测量仪用交流电形成为反相位，其中，将所述中央的阻抗测量仪输出规定频率的测量用交流电，所述邻旁的阻抗测量仪使各自的测量用交流电错开半波长并供给至测量对象的试样。