[发明专利]一种芯片引脚光学检测系统

说明书

本发明公开了一种芯片引脚光学检测系统，包括芯片发送器、滑动导轨、聚光室、和成像镜头，所述芯片发送器设置在滑动导轨的顶端，在滑动导轨上沿着滑动导轨方向设有滑槽，聚光室固定在滑动导轨上，滑槽从的聚光室两侧穿过，被滑槽穿过的聚光室两侧设有通口，通口上设有可升降遮光板，在位于聚光室内的滑槽底部设有可伸缩阻挡块，芯片沿滑槽滑下被阻挡在可伸缩阻挡块上方，在聚光室正对滑槽的一面设有成像口，成像口外部设有成像镜头，成像镜头通过成像口正对芯片和芯片引脚，在聚光室内壁上环绕着芯片引脚设有若干聚光灯。其应用时，可以对芯片引脚进行自动化光学成像检测，提高检测效率，并设置独特的照明系统，提高光学成像质量。

技术领域

本发明涉及光学检测领域，具体涉及一种芯片引脚光学检测系统。

背景技术

芯片在封装完成后需要对其引脚进行检测，判断所有引脚是否排列整齐，以确定芯片是否为不良品。现有的封装好的芯片主要靠检测显微镜来对相关引脚进行共面性检测，以判断同一排、同一列的芯片引脚是否处于同一平面，芯片引脚之间的间距是否合格，其检测过程效率低、耗时长，且受人为因素影响较大，容易出现检测误差。

发明内容

本发明针对现有技术存在的不足，提供一种芯片引脚光学检测系统，其应用时，可以对芯片引脚进行自动化光学成像检测，提高检测效率，并设置独特的照明系统，提高光学成像质量。

本发明通过以下技术方案实现：

一种芯片引脚光学检测系统，包括芯片发送器、滑动导轨、聚光室、芯片和成像镜头，所述芯片发送器设置在滑动导轨的顶端，在滑动导轨上沿着滑动导轨方向设有滑槽，滑槽与芯片发送器内部连通，聚光室固定在滑动导轨上，其位于芯片发送器的下方，将一截滑动导轨封闭，滑槽从的聚光室两侧穿过，被滑槽穿过的聚光室两侧设有通口，通口位于滑槽上方，且在通口上设有可升降遮光板，在位于聚光室内的滑槽底部设有可伸缩阻挡块，芯片沿滑槽滑下被阻挡在可伸缩阻挡块上方，芯片上的芯片引脚垂直伸出滑槽外，在聚光室正对滑槽的一面设有成像口，成像口正对芯片和芯片引脚，成像口外部设有成像镜头，成像镜头与计算机连接，成像镜头通过成像口正对芯片和芯片引脚，在聚光室内两侧壁上成对设置有聚光灯，聚光灯的位置高于芯片引脚的顶端，聚光灯的外部包围有拱形聚光壳，拱形聚光壳上设有第一束光筒和第二束光筒，第一束光筒和第二束光筒均与拱形聚光壳内部连通，第一束光筒的出射口正对其所在侧的芯片引脚顶端，第二束光筒出射口正对其对侧的芯片引脚顶端，第一束光筒和第二束光筒的中轴线分别与其所对应的芯片引脚的中轴线成45°～60°夹角。

其应用时，芯片发送器内待检的芯片以芯片引脚朝外的方式沿滑槽滑下，被可伸缩阻挡块阻挡在聚光室内，通口上的可升降遮光板降下将滑槽封闭，使聚光室形成一个只留成像口的封闭室，聚光室内的聚光灯通过拱形聚光壳、第一束光筒/第二束光筒的聚光作用后分别对芯片两侧的引脚顶端进行直射，芯片引脚上的反射光通过成像口被成像镜头接收，由此，成像镜头就可以通过成像口对所有芯片引脚进行图像采集，且由于聚光室内受外部光线干扰较少，芯片引脚的反射光较强，所以成像镜头的成像质量较高，可以提高检测的精确度，成像镜头图像采集完成后将图像传输到计算机进行快速图像识别检测，检测完毕后，可升降遮光板升起，可伸缩阻挡块缩回，芯片沿滑槽滑出聚光室，进行下一步处理，而芯片发送器内紧接着滑出下一个待检芯片至聚光室，这样依次进行自动化地检测，省去人力参与的环节，有效提高芯片引脚的检测效率，且经过多次的实验证明，当第一束光筒和第二束光筒的中轴线分别与其所对应的芯片引脚的中轴线成45°～60°夹角时，芯片引脚顶端反射光的最终成像质量最高，成像效果最佳，可以有效提高检测的精确度。

优选地，所述聚光室、可升降遮光板、可伸缩阻挡块、和滑动导轨的外表均涂有黑色涂层，其应用时，可以有效吸收聚光室内多余的光线，使聚光室内除芯片引脚外全都呈黑色背景，尽量使成像镜头接收到的来自于芯片引脚的反射光，提高芯片引脚的检测精确度。

优选地，所述滑槽内涂有活塞石墨减摩涂层，其应用时，可以有效降低芯片与滑槽的摩擦，减小芯片的磨损。