[发明专利]半导体装置

说明书

本发明提供一种半导体装置。需要检测在存储器访问电路与共享资源之间的路径上的故障、逻辑电路中的故障以及所述共享资源中的故障。半导体装置包括：第一存储器访问电路；第二存储器访问电路，其用于检查所述第一存储器访问电路；存储器，其基于从所述第一存储器访问电路输入的第一访问地址而输出存储器地址；双工比较电路，其将所述第一访问地址与从所述第二存储器访问电路输出的第二访问地址相比较；第一地址比较电路，其将所述第一访问地址与所述存储器地址相比较；以及错误控制电路，其基于来自所述双工比较电路的比较结果以及来自所述第一地址比较电路的比较结果而输出控制信号。

相关申请的交叉引用

包括说明书、附图和摘要的、于2017年9月29日提交的日本专利申请公开No.2017-189496的全部内容通过引用并入本文。

技术领域

本公开涉及一种半导体装置并且可适用于例如，具有故障检测功能的半导体装置。

背景技术

除了用于执行自诊断的安全机制，例如，提供用于SRAM或闪存存储器的ECC(错误校正码)电路和BIST(内建自测)电路之外，车载微控制器包括用于监视微控制器的CPU的操作的安全机制。

作为用于监视CPU操作的安全机制，双锁步(下文称为锁步)是最流行的系统。系统使安装在一个半导体芯片上的两个CPU的时钟同步，并且同时允许每个CPU执行相同过程。系统允许比较电路将来自CPU的处理结果相互比较，并且仅在处理结果相同时执行所述过程。例如，在美国专利申请公开No.2013/038945中公开锁步。

专利文献1：美国专利申请公开No.2013/038945

发明内容

当使用锁步配置时，诸如CPU的总线主控器可以检测总线主控器上的故障。然而，锁步配置无法检测锁步之外的故障。也就是说，当总线主控器访问诸如存储器的共享资源时，无法检测在基于锁步配置的总线主控器与共享资源之间的路径上的故障、逻辑电路中的故障，以及共享资源中的故障。通过参考本说明书的以下描述和附图，可以容易地确定这些和其它目的以及新颖特征。

以下描述简要地说明根据本公开的代表性方面的概述。也就是说，半导体装置包括用于至共享资源的访问信号的比较电路。

上述半导体装置可以检测至共享资源的访问路径上的故障。

附图说明

图1是说明微控制器的配置示例的图；

图2是说明在图1中的CPU侧处的地址和数据的流的图；

图3是说明在图1中的存储器控制器侧处的地址和数据的流的图；

图4是说明图2中的CPU、故障检测电路和本地存储器的更详细配置的框图；

图5是说明图4中的一个地址故障检测电路的配置示例的框图；

图6是说明图4中的另一个地址故障检测电路的配置示例的框图；

图7是说明图2中的CPU、故障检测电路和本地存储器的另一配置示例的框图；

图8是说明图7中的地址故障检测电路的配置示例的框图；

图9是说明图2中的CPU、故障检测电路和本地存储器的另一配置示例的框图；以及

图10是说明图9中的地址故障检测电路的配置示例的框图。

具体实施方式

如上所述，使用锁步配置的诸如CPU的总线主控器可以检测总线主控器上的故障。然而，锁步配置无法检测锁步之外的故障。也就是说，当总线主控器访问诸如存储器的共享资源时，无法检测在基于锁步配置的总线主控器与共享资源之间的路径上的故障、逻辑电路中的故障，以及共享资源中的故障。