[发明专利]一种算法库测试方法在审

专利信息
申请号: 201811108870.5 申请日: 2018-09-21
公开(公告)号: CN109375606A 公开(公告)日: 2019-02-22
发明(设计)人: 孙略;吴瑶;齐敏;吕秀红;朱剑 申请(专利权)人: 北京广利核系统工程有限公司;中国广核集团有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 侯永帅;庞许倩
地址: 100094 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 算法库 应用逻辑 测试 算法 逻辑算法 被测系统 工程项目 功能缺陷 实际工程 输出信号 项目应用 运算结果 准确度 串并联 块同步 应用 保证
【说明书】:

发明涉及一种算法库测试方法,方法包括根据工程项目应用,选取应用逻辑;根据所述应用逻辑指示的逻辑算法,对算法库中的多个算法块同步进行测试;判断被测系统的输出信号与输入信号的应用逻辑运算结果是否一致,一致则确定所述算法库的逻辑算法运行正确。本发明针对实际工程项目应用,对算法库采用应用逻辑功能同步进行多个算法块的测试,克服了现有测试方法不能保证多个算法块串并联使用时运行正确的功能缺陷,同时提高了测试的准确度和可靠性。

技术领域

本发明涉及仪控系统测试领域,尤其涉及一种算法库测试方法。

背景技术

仪控系统中为实现仪控设计中各工艺环节的数据处理要求,会开发满足设计要求的逻辑算法块,实现对采集数据的转换、运算和数据输出,算法库是包括所有算法块的产品。为保证算法库的逻辑正确性和准确性,且满足仪控系统的实际工程应用,在交付工厂测试(FT)前,需要对产品算法库中所有算法块的基本功能进行详尽的平台系统测试。

通常仪控系统平台中算法块具有功能繁多,逻辑复杂,数量约300个的特点。目前业内针对平台算法块功能的测试多为黑盒测试,例如算法块功能遍历测试和算法块仿真测试,都为单一算法块的测试,该测试方法可以保证单个算法块的正确性,但存在不能保证多个算法块串并联使用时运行正确的功能缺陷。

发明内容

鉴于上述的分析,本发明旨在提供一种算法库测试方法,解决了目前测试方法不能保证多个算法块串并联使用时运行正确的功能缺陷,提高了测试的准确性和可靠性。

本发明的目的主要是通过以下技术方案实现的:

本发明实施例提供了一种算法库测试方法,该方法包括以下步骤:根据工程项目应用,选取应用逻辑;根据所述应用逻辑指示的逻辑算法,对算法库中的多个算法块同步进行测试;判断被测系统的输出信号与输入信号的应用逻辑运算结果是否一致,一致则确定所述算法库的逻辑算法运行正确。

基于上述方法的另一个实施例中,所述被测系统包括所述算法库,以及分别与所述算法库连接的输入模块和输出模块。所述输入模块采集由测试仪表生成的信号,由测试仪表采集所述输出模块输出的信号;其中,所述测试仪表包括与所述输入模块通过输入通道连接的信号注入仪表,及与所述输出模块通过输出通道连接的信号采集仪表。所述算法库包括串和/或并联的方式连接的多个算法块。所述应用逻辑指示的逻辑算法为所述被测系统中一个算法块的典型应用逻辑算法。所述典型应用逻辑算法根据执行的测试用例选取所述输入模块采集的信号量值。所述采集的信号量值为所述应用逻辑的测试用例对应的量程范围值。所述被测系统执行测试用例过程中,验证所述应用逻辑对应的算法块,同时验证相关的多个算法块。所述算法库通过多个算法块对应的典型应用逻辑算法的验证完成所述算法库的测试。进一步地,终端与所述算法库中各算法块连接,监视各算法块的逻辑算法运算结果以及所述算法库输出的结果。

上述技术方案的有益效果如下:本发明实施例公开了一种算法库测试方法,根据工程项目应用,选取应用逻辑,根据所述应用逻辑指示的逻辑算法,对算法库中的多个算法块同步进行测试,判断被测系统的输出信号与输入信号的应用逻辑运算结果是否一致,一致则确定所述算法库的逻辑算法运行正确。本发明实施例针对实际工程项目应用,对算法库采用应用逻辑功能同步进行多个算法块的测试,克服了现有测试方法不能保证多个算法块串并联使用时运行正确的功能缺陷,不仅提高了测试的准确度和可靠性,还通过算法监视终端和测量仪表的输出进行直观监视和查看,使得测试过程明晰化及结果辨识度高。

本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分的从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图仅用于示出具体实施例的目的,而并不认为是对本发明的限制,在整个附图中,相同的参考符号表示相同的部件。

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