[发明专利]一种基于张量分解的多线TRL校准方法有效

专利信息
申请号: 201811109940.9 申请日: 2018-09-21
公开(公告)号: CN109270479B 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 白舜 申请(专利权)人: 临海市云谱光电有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R31/00
代理公司: 杭州知见专利代理有限公司 33295 代理人: 卢金元
地址: 317000 浙江省台*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 张量 分解 trl 校准 方法
【权利要求书】:

1.一种基于张量分解的多线TRL校准方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、测量反射参数R和透射参数T标准件的S参数;

S2、测量N根冗余传输线的S参数,N为大于等于2的正整数;

S3、对N根冗余传输线在所有频点进行同步CP张量分解;

S4、将分解获得的特征根进行归一化及后期处理,获得校准参数;

S5、测量待测网络的S参数并计算级联传输矩阵;

S6、通过步骤S5获得的级联传输矩阵及S4获得的校准参数对待测网络进行校准,获取校准后的S参数;

所述步骤S3中,CP张量分解的输入参数为N个Mi级联传输矩阵所形成的4N个参数的张量Τ,Mi为第i根传输线的级联传输矩阵,CP张量分解公式如下:

式中R为矩阵的秩,R=2;求得三个秩为R的外积基为和

所述步骤S4为通过最小二乘拟合获取传播常数,进而获得校准参数X和Y,具体为:

S401、选择中的列满足对应和且满足

li为第i根传输线的长度,第i根传输线二端级联传输矩阵为Ti满足:

所有作为校准的传输线具有相同的传播常数γ,因此有

S402、将u(1)和u(3)中按照传统多线TRL校准方法归一化为

S403、根据TRL校准方法中给定测得的反射参数R标准件和透射参数T标准件按照传统方法求得u(2)中两列的相应比例系数,从而不改变以上所述的CP张量分解的值;

S404、根据邻近频点的张量分解的误差,判断当前频点张量分解误差是否在局部极小值收敛;若存在跳跃性误差阶梯,则重复以当前三个所求的张量分解为初始值进行多次迭代CP张量分解,直至不存在跳跃性误差阶梯;

S405、计算传播常数γ,具体为:根据以上CP张量分解后获得的第i根传输线的Ti的误差矩阵的L1或L2范数的倒数作为权重,将所有传输线进行最小二乘拟合,即

根据所得最优传播常数γ,通过定义γ=α+jβ来获取衰减常数α和相位常数β以及所对应的介质实际相对介电常数εr和损耗系数tanδ。

2.根据权利要求1所述的一种基于张量分解的多线TRL校准方法,其特征在于,步骤S5与S6中,由以下公式通过级联传输矩阵到S参数的变换获得待测网络的校准后S参数:

其中,Tdut=X-1MdutY-1,Mdut为所待测网络的未校准测得的级联传输矩阵,X和Y分别为步骤S404中所求得的每个频点的和

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