[发明专利]一种集成电路板的外观检测机构

说明书

本发明公开了一种集成电路板的外观检测机构，包括检测机架，所述检测机架上设有检测底座，所述检测底座的两侧固定有两个竖直板，竖直板的上端中部铰接有连轴，所述连轴的一端固定有转动轮，两个转动轮的中部之间连接有传动轴，所述传动轴包括分别与两个转动轮连接的第一子轴和第二子轴，所述第一子轴的一端成型有第一内花键孔、另一端成型有第一外花键，所述第二子轴的两端均成型有第二外花键，转动轮的中部成型有第二内花键孔；所述传动轴上方的转动轮侧壁上成型有水平的插接槽，转动轮一侧的竖直板上固定有水平限位板。本发明减轻检测人员的劳动强度，且能提高检测效率。

技术领域

本发明涉及集成电路检测设备的技术领域，具体是涉及一种集成电路板的外观检测机构。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件。其采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。

集成电路在生产过程中均需要进行检测，其检测包括性能检测和外观检测，外观检测的项目包括会造成集成电路性能问题的划痕、凹陷的缺陷，现有的集成电路的外观检测一般人工进行目测完成，而人工目测集成电路的外观检测不仅容易造成疏漏，而且对检测人员的劳动强度较大，且检测效率不高。

有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的集成电路板的外观检测机构，使其更具有产业上的利用价值。

发明内容

本发明的目的旨在解决现有技术存在的问题，提供一种减轻检测人员的劳动强度，且能提高检测效率的集成电路板的外观检测机构。

本发明涉及一种集成电路板的外观检测机构，包括检测机架，所述检测机架上设有检测底座，所述检测底座的两侧固定有两个竖直板，所述竖直板上方的检测机架上设有工业相机，竖直板的上端中部铰接有连轴，所述连轴的一端固定有转动轮，两个竖直板上的转动轮相对设置，与其中一个转动轮固定的连轴上设有连轴驱动件，两个转动轮的中部之间连接有传动轴，所述传动轴包括分别与两个转动轮连接的第一子轴和第二子轴，所述第一子轴的一端成型有第一内花键孔、另一端成型有第一外花键，所述第二子轴的两端均成型有第二外花键，转动轮的中部成型有第二内花键孔，第一子轴的第一外花键插套在其中一个转动轮的第二内花键孔中，第二子轴的一端第二外花键插套在第一子轴的第一内花键孔中、另一端第二外花键插套在另一个转动轮的第二内花键孔中，第一子轴和第二子轴的一端端部距离转动轮的第二内花键孔的端部内壁一定距离；

所述传动轴上方的转动轮侧壁上成型有水平的插接槽，转动轮一侧的竖直板上固定有水平限位板，所述水平限位板位于所述插接槽的下方。

借由上述技术方案，本发明在工作时，首先通过外置的机械手或者推料气缸的作用将待检测的集成电路板推送到位于两个竖直板之间的转动轮上，集成电路板的两侧插接在转动轮的插接槽内，此时集成电路板的一侧下端面正好抵靠在水平限位板上，集成电路板保持水平状态，之后，工业相机动作，将拍摄数据输送到服务器进行对比，判断是否有缺陷，当完成集成电路板一面的外观检测后，连轴驱动件驱动一个连轴旋转，连轴带动两个转动轮和传动轴旋转，转动轮带动集成电路板转动180度后，集成电路板的一侧上端面正好抵靠在水平限位板上，集成电路板翻过一面后再次保持水平状态，再通过工业相机进行外观检测。此时，转动180度的转动轮使得其上的传动轴处于集成电路板的上方，由此影响工业相机的检测，因此可将传动轴的第一子轴和第二子轴从转动轮上拆下，具体地，由于第一子轴和第二子轴的一端端部距离转动轮的第二内花键孔的端部内壁一定距离，因此可向第二内花键孔内拉动第一子轴或第二子轴使得第一子轴与第二子轴间相对移动，直至第一子轴和第二子轴通过第一内花键孔和第二外花键的配合彼此分离，分离后，可分别再通过第一外花键与第二内花键孔以及第二外花键与第二内花键孔的配合将第一子轴和第二子轴从转动轮上拆卸下来，由此使得传动轴从转动轮上拆下，继而可对集成电路板的另一面做外观检测。完成检测后，再通过机械手或推料气缸将安置在插接槽内的集成电路板推送出转动轮。