[发明专利]一种适合微型表面贴装的光敏传感芯片结构及其加工方法在审
申请号: | 201811111578.9 | 申请日: | 2018-09-24 |
公开(公告)号: | CN109509760A | 公开(公告)日: | 2019-03-22 |
发明(设计)人: | 陈立;樊子宇 | 申请(专利权)人: | 深圳市乐夷微电子有限公司 |
主分类号: | H01L27/144 | 分类号: | H01L27/144;H01L31/18 |
代理公司: | 北京众元弘策知识产权代理事务所(普通合伙) 11462 | 代理人: | 孙东风 |
地址: | 518101 广东省深圳市宝安区西乡街道宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光敏二极管 正极 传感芯片 光敏 电流放大器 负极 微型表面 芯片本体 漏极 贴装 源极 信号输出端 光照区域 接地 输出端 输入端 遮光件 加工 覆盖 | ||
1.一种适合微型表面贴装的光敏传感芯片结构,包括芯片本体,其特征在于,所述芯片本体上设置有面积相同、PN结体结构相同的第一光敏二极管和第二光敏二极管;还包括第一PMOS管和第二PMOS管;
其中,所述第一光敏二极管的受光照区域覆盖遮光件;
所述第一PMOS管的源极和所述第二PMOS管的源极均连接于正极,所述第一PMOS管的栅极和所述第二PMOS管的栅极相接;
所述第一PMOS管的漏极与栅极相接、同时与第一光敏二极管的负极相接;
所述第二PMOS管的漏极与第二光敏二极管的负极相接、同时接入电流放大器的输入端,该电流放大器的输出端即为信号输出端;
所述第一光敏二极管的正极与所述第二光敏二极管的正极均接地。
2.如权利要求1所述的适合微型表面贴装的光敏传感芯片结构,其特征在于,所述遮光件为金属层。
3.如权利要求1所述的适合微型表面贴装的光敏传感芯片结构,其特征在于,所述光敏二极管包括N型衬底,在所述N型衬底上设置有P阱层,所述P阱层的顶面间隔分布有P型基区和N+掺杂,在所述N+掺杂上分布有栅氧,且在预定的栅氧上设置了多晶;
所述多晶、栅氧、栅氧之下的N+掺杂、以及P型基区均被介质层覆盖,在所述介质层上覆盖有二氧化硅层;
所述介质层上对应于P型基区的位置开设有通孔,在所述二氧化硅层的下层对应于所述通孔的位置设置有金属铝;
在所述二氧化硅层的顶面、且正对多晶的上部具有开窗。
4.一种加工适合微型表面贴装的光敏二极管的方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤一,取型号为N型,电阻率20~30ohm-cm,晶向<100>的硅材料形成N型衬底;
步骤二,在所述N型衬底上推进氧化层厚为200A~400A、结深为6um~8um的P阱;
步骤三,在所述P阱上间隔进行离子注入以形成P型基区,所述离子注入剂量为1E14,注入能量60KeV~80KeV;
步骤四,进行As离子注入以表面调节,所述离子注入能量为80KeV~200KeV,离子注入剂量为8E12~2E13;
步骤五,在所述P阱上间隔推进N+掺杂,其中,氧化层厚度为3000A~4000A,基区结深为4um~6um;
步骤六,在所述N+掺杂上形成栅氧,其中,氧化层厚度为150A~250A;
步骤七,在预定的栅氧上设置电阻率为20~30ohm/sq、厚度为2000A~4000A的多晶;
步骤八,形成厚度为100A~300A的介质层,并令所述介质层覆盖所述多晶、栅氧、栅氧之下的N+掺杂、以及P型基区;
步骤九,在所述介质层上对应于P型基区的位置光刻腐蚀出通孔;
步骤十,在所述介质层上、且对应于通孔的位置淀积8000A~12000A金属铝;
步骤十一,在所述介质层上淀积形成二氧化硅层,且所述二氧化硅层厚度为10000A~20000A;
步骤十二,在所述二氧化硅层的顶面、且正对多晶的上部具有开窗。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的