[发明专利]具有备用列重映射储存器的存储器件有效

专利信息
申请号: 201811113670.9 申请日: 2018-09-25
公开(公告)号: CN109584946B 公开(公告)日: 2023-02-17
发明(设计)人: 李好均;朴一;朱英杓 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: G11C29/44 分类号: G11C29/44;G11C29/00
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 许伟群;郭放
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 备用 映射 储存器 存储 器件
【说明书】:

发明提供一种具有备用列重映射储存器的存储器件。所述存储器件包括数据储存区和备用列重映射储存器。所述数据储存区包括多个子阵列,所述多个子阵列中的每个具有多个主列和多个备用列。所述备用列重映射储存器包括储存使用所述多个备用列来修复的主列的地址信息的多个储存单元。所述备用列重映射储存器中包括的所述多个储存单元中的至少一个被提供以储存在所述多个子阵列中的一个中修复的主列的地址信息,以及在所述多个子阵列中的另一个中修复的主列的地址信息。

相关申请的交叉引用

本申请要求2017年9月27日提交的申请号为10-2017-0125511和10-2017-0125512的韩国申请的优先权,其通过引用整体合并于此。

技术领域

本公开的各种实施例总体而言涉及存储器件,更具体地,涉及具有备用列重映射储存器(spare column remap storage)的存储器件。

背景技术

随着存储器件变得更加高度集成以增加数据储存容量,包括存储器件的电子系统的可靠性倾向于依赖存储器件的可靠性。存储器件可以被设计成利用冗余电路、使用内置自修复(built-in-self-repair,BISR)方案来修复故障存储单元以增加存储器件的制造良率以及保证存储器件的可靠性。根据BISR方案,可以由用于修复故障存储单元的备用列来替换包括故障存储单元的核心列。然而,在这种情况下,在修复故障存储单元方面可能存在限制。即,如果备用列的数量小于包括故障存储单元的核心列的数量,则可能难以修复全部的故障存储单元。

发明内容

根据一个实施例,一种存储器件包括数据储存区和备用列重映射储存器。数据储存区包括多个子阵列,所述多个子阵列中的每个具有多个主列和多个备用列。所述备用列重映射储存器包括储存使用所述多个备用列来修复的主列的地址信息的多个储存单元。所述备用列重映射储存器中包括的所述多个储存单元中的至少一个被提供以储存在所述多个子阵列中的一个中修复的主列的地址信息,以及在所述多个子阵列中的另一个中修复的主列的地址信息。

根据另一实施例,一种存储器件包括多个存储体和备用列重映射储存器。所述多个存储体中的每个包括多个子阵列,并且所述多个子阵列中的每个具有多个主列和多个备用列。所述备用列重映射储存器包括储存使用所述多个备用列来修复的主列的地址信息的多个储存单元。所述备用列重映射储存器中包括的所述多个储存单元中的至少一个被配置成储存在所述多个子阵列中的一个中修复的主列的地址信息,以及在所述多个子阵列中的另一个中修复的主列的地址信息。

根据另一实施例,一种存储器件包括多个存储体。所述多个存储体中的每个包括备用列重映射储存器和多个子阵列。所述多个存储体中的每个所包括的备用列重映射储存器包括多个储存单元。所述多个子阵列中的每个包括多个主列和多个备用列。设置在所述多个存储体中的每个中的备用列重映射储存器所包括的所述多个储存单元中的至少一个被配置成:储存在所述多个子阵列中的一个中修复的主列的地址信息,以及在所述多个子阵列中的另一个中修复的主列的地址信息。

根据另一实施例,一种存储器件包括数据储存区和备用列重映射储存器。数据储存区包括多个子阵列,所述多个子阵列中的每个具有多个主列和多个备用列。所述备用列重映射储存器包括多个储存单元,所述多个储存单元将所述多个子阵列中的一个中的被修复主列的列地址信息、以及所述多个子阵列中的另一个中的被修复主列的地址信息,储存在所述备用列重映射储存器所包括的所述多个储存单元中的至少一个中。

根据另一实施例,提供了一种重映射存储器件的列地址的方法。所述存储器件包括数据储存区和备用列重映射储存器。所述数据储存区包括多个子阵列,并且所述多个子阵列中的每个包括多个主列和多个备用列。所述备用列重映射储存器包括多个储存单元。该方法包括将所述多个子阵列中的一个中的被修复主列的地址信息、以及所述多个子阵列中的另一个中的被修复主列的地址信息,储存在所述备用列重映射储存器所包括的所述多个储存单元中的至少一个中。

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