[发明专利]测量方法及其测量系统

权利要求书

1.一种测量方法，包括以下步骤：

提供检测设备，所述检测设备具有第一坐标系；

提供待测物体，所述待测物体具有第二坐标系和测量轨迹，所述测量轨迹在所述第二坐标系下具有第一轨迹信息；

将所述待测物体放置于所述检测设备；

在将所述待测物体放置于所述检测设备之后，获得所述第一坐标系与所述第二坐标系之间的转换关系；

利用所述转换关系获得所述测量轨迹在所述第一坐标系中的第二轨迹信息；

利用所述检测设备根据所述第二轨迹信息对所述测量轨迹进行测量，得到所述测量轨迹在所述第一坐标系中的第一检测信息。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述第一坐标系包括第一坐标轴、第二坐标轴和第三坐标轴，所述第一坐标轴和第二坐标轴所组成的平面为第一坐标平面，所述第三坐标轴与所述检测设备的光轴平行；所述第二坐标系包括第四坐标轴、第五坐标轴和第六坐标轴；

获得所述转换关系的步骤包括：获取所述第四坐标轴和所述第五坐标轴所组成的平面在所述第一坐标系下的第二坐标平面；根据所述第二坐标平面获取所述第一坐标轴与所述第四坐标轴之间的第一轴线位置关系；根据所述第二坐标平面获取所述第二坐标轴与所述第五坐标轴之间的第二轴线位置关系；根据所述第二坐标平面获取第一坐标系原点与第二坐标系原点之间的原点位置关系；根据所述第一轴线位置关系、第二轴线位置关系和原点位置关系，获取所述转换关系。

3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，

获取所述第一轴线位置关系和所述第二轴线位置关系的步骤包括：对所述待测物体的边缘在所述第一坐标平面中进行成像，获取所述待测物体在所述第一坐标平面中的轮廓像；获取所述轮廓像沿所述第三坐标轴在所述第二坐标平面中的投影的轮廓像投影；根据所述轮廓像和所述轮廓像投影获取所述第一轴线位置关系和所述第二轴线位置关系。

4.根据权利要求3所述的测量方法，其特征在于，所述待测物体包括平行于所述第四坐标轴的第一边、平行于所述第五坐标轴的第二边；

所述轮廓像包括第一像和第二像；

获取所述轮廓像的步骤包括：通过所述检测设备获取所述第一边在所述第一坐标平面中的第一像；通过所述检测设备获取所述第二边在所述第一坐标平面中的第二像；获取所述轮廓像投影的步骤包括：获取所述第一像沿所述第三坐标轴在所述第二坐标平面中的第一投影信息；获取所述第二像沿所述第三坐标轴在所述第二坐标平面中的第二投影信息；

获取所述第一轴线位置关系和所述第二轴线位置关系的步骤包括：根据所述第一像和所述第一投影信息获取所述第一轴线位置关系；根据所述第二像和所述第二投影信息获取所述第二轴线位置关系。

5.根据权利要求3所述的测量方法，其特征在于，所述待测物体包括特征点，所述第二坐标系原点与所述特征点的位置重合；

获取所述原点位置关系的步骤包括：根据所述轮廓像获取所述特征点在所述第一坐标平面中的特征像；获取所述特征像沿所述第三坐标轴在所述第二坐标平面中的特征像投影；根据所述特征像和所述特征像投影获取所述原点位置关系。

6.根据权利要求5所述的测量方法，其特征在于，所述待测物体具有旋转对称性，所述待测物体包括具有旋转对称性的两条第一对称边，以及具有旋转对称性的两条第二对称边，所述第二对称边与所述第一对称边不平行，所述第一对称边在所述第一坐标平面中成的像为第一对称像，所述第二对称边在所述第一坐标平面中成的像为第二对称像；所述特征点为所述待测物体的形心；

当两条第一对称像具有第一夹角时，获取所述特征像的步骤包括：获取所述第一夹角的第一角平分线；当两条第二对称像具有第二夹角时，获取所述第二夹角的第二角平分线；获取所述第一角平分线与所述第二角平分线的交点，作为所述特征像；

当两条第一对称像平行时，获取所述特征像的步骤包括：获取与两条第一对称像之间的距离相等的第一平分线；获取与两条第二对称像之间的距离相等的第二平分线；获取所述第一平分线与所述第二平分线的交点，作为所述特征像。