[发明专利]一种M.2接口信号测试设备

说明书

本发明公开一种M.2接口信号测试设备，包括测试治具、设置于所述测试治具上并用于与被测设备上的M.2母头适配的M.2公头，以及设置于所述测试治具上并与所述M.2公头信号连接、用于对所述M.2公头的接收信号进行预设测试的测试器。本发明通过在测试治具上设置M.2公头，再通过M.2公头与M.2母头的接插适配连接，实现M.2母头与M.2公头之间的稳定连接，最后再通过测试器将M.2公头的接收信号进行对应测试，从而方便、快捷地完成对M.2接口的信号测试。相比于现有技术，本发明无需通过若干个高速探头分别连接M.2母头上的各根PIN，避免出现信号引脚接错或接触不良的问题。

技术领域

本发明涉及服务器技术领域，特别涉及一种M.2接口信号测试设备。

背景技术

随着中国电子技术的发展，越来越多的电子设备已得到广泛使用。

服务器是电子设备中的重要组成部分，是提供计算服务的设备。由于服务器需要响应服务请求，并进行处理，因此一般来说服务器应具备承担服务并且保障服务的能力。根据服务器提供的服务类型不同，分为文件服务器，数据库服务器，应用程序服务器，WEB服务器等。服务器的主要构成包括处理器、硬盘、内存、系统总线等，和通用的计算机架构类似，但是由于需要提供高可靠的服务，因此在处理能力、稳定性、可靠性、安全性、可扩展性、可管理性等方面要求较高。

在大数据时代，大量的IT设备会集中放置在数据中心。这些数据中心包含各类型的服务器、存储、交换机及大量的机柜及其它基础设施。每种IT设备都是由各种硬件板卡组成，如计算模块、存储模块、机箱、风扇模块等等。硬件设备都需要进行安装维护，为提高维护效率及提升设备的使用效率，需要对各类模块在设备中的固定及安装维护方式不断优化，在不增加成本的情况下实现高效率安装维护。

目前，服务器随着板卡密度的不断提高，元器件的封装尺寸越来越小，M.2作为一种高密度、小尺寸的连接器得到越来越广泛的使用。M.2接口的信号引脚密度较高且都被包裹，PIN密度大体积小，并且M.2接口的PCIE信号为高速信号，在出厂前必须进行信号完整性测试。在现有技术中一般通过高速信号探头直接在M.2接口上对每根PIN进行点测，但是，由于空间狭窄，且M.2接口PIN很小、很密集，高速探头很容易出现无法正常接触到信号引脚、接错信号引脚或接触不良的问题，从而导致无法顺利、精确地对M.2接口进行测试。

因此，如何方便、精确地完成对M.2接口的信号测试，提高信号测试效率和测试精度，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种M.2接口信号测试设备，能够方便、精确地完成对M.2接口的信号测试，提高信号测试效率和测试精度。

为解决上述技术问题，本发明提供一种M.2接口信号测试设备，包括测试治具、设置于所述测试治具上并用于与被测设备上的M.2母头适配的M.2公头，以及设置于所述测试治具上并与所述M.2公头信号连接、用于对所述M.2公头的接收信号进行预设测试的测试器。

优选地，所述测试治具具体为PCB板，且其上分别设置有用于引出所述M.2母头的时钟信号的第一引出电路，以及用于引出所述M.2母头的数据信号的第二引出电路。

优选地，所述M.2公头焊接于所述测试治具的端部，且所述第一引出电路和所述第二引出电路的首端均延伸至与所述M.2公头连接。

优选地，所述第一引出电路和所述第二引出电路的末端上均设置有RF连接器，且所述RF连接器与所述测试器通过RF线缆信号连接。

优选地，所述测试器上设置有分别用于显示所述第一引出电路和所述第二引出电路的信号波形的显示屏，以及分别用于对所述第一引出电路和所述第二引出电路的信号进行测试的控制按钮。

优选地，所述测试器具体为示波器。