[发明专利]介质电气参数的获取方法、系统、装置及可读存储介质

说明书

本申请公开了一种介质电气参数的获取方法，应用于PCB板外层，包括：在PCB板上设置两组对照测试阻抗线；其中，两组所述对照测试阻抗线包括绿油开窗的第一阻抗线和绿油全覆盖的第二阻抗线；分别获取两组所述对照测试阻抗线的测试数据；根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数。由于本发明中存在两组介质不同的对照测试阻抗线，通过对比计算每一组的介质电气参数，可以将PCB板外层的多种介质解耦，进而确定每种介质的介质电气参数。与现有技术相比，减少了介质电气参数的计算工作量，进一步提升了整体参数确定的效率。相应的，本申请还公开了一种介质电气参数的获取系统、装置及可读存储介质。

技术领域

本发明涉及存储硬件设计领域，特别涉及一种介质电气参数的获取方法、系统、装置及可读存储介质。

背景技术

在存储系统中，硬件系统作为整个系统的物理支撑，对系统运行的稳定性和可靠性起到了至关重要的作用。而整个硬件系统中，PCB(Printed circuit board，印制电路板)作为绝大部分电子器件的物理承载和连接通道，是硬件系统设计的关键。PCB的材料组成包括绿油、PP和core等介质，他们的电气特性和热稳定性直接决定了PCB对应的性能。在PCB的制造过程中，由于压合时PP层的树脂胶会流入上下两侧的铜线和间隙内，成型后的PP介质的介电常数随着整体含胶量的减少而发生变化。在PCB介质的电气性能研究和分析过程中，需要结合已获取的板内介质厚度和铜箔厚度的数值以及测试结果确定PP和core的电气特性参数。

目前，业界主流的对测试板的确定电气参数设计基于正常的PCB层叠结构，由于铜线上下两层的PP和绿油两种介质的电特性都会影响到最终的测试结果，在确定电气参数的过程中需要耦合计算这两种介质的介电常数DK值和介质损耗DF值。为了准确解析确定计算公式，需要设计多种线宽的阻抗测试类型，且确定过程比较复杂，效率较低。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是目前本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种介质电气参数的获取方法、系统、装置及可读存储介质，以便能够高效准确地获取介质电气参数。其具体方案如下：

一种介质电气参数的获取方法，应用于PCB板外层，包括：

在PCB板上设置两组对照测试阻抗线；其中，两组所述对照测试阻抗线包括绿油开窗的第一阻抗线和绿油全覆盖的第二阻抗线；

分别获取两组所述对照测试阻抗线的测试数据；

根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数。

优选的，所述分别获取两组所述对照测试阻抗线的测试数据的过程，具体包括：

分别获取两组所述对照测试阻抗线的阻抗和损耗。

优选的，所述根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数的过程，具体包括：

根据两组所述对照测试阻抗线的阻抗和损耗，结合对应的线宽和介质厚度，计算所述PCB板外层的介质电气参数。

优选的，所述介质电气参数包括DK值和DF值。

优选的，所述根据两组所述对照测试阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的介质电气参数的过程，具体包括：

根据所述第一阻抗线的测试数据，确定所述PCB板外层的PP介质的介质电气参数；

根据所述第二阻抗线的测试数据，结合所述PP介质的介质电气参数，确定所述PCB板外层的绿油介质的介质电气参数。

本发明公开了一种介质电气参数的获取系统，应用于PCB板外层，包括：