[发明专利]基于PSD和激光测距的位移形变测量装置及方法在审
| 申请号： | 201811123883.X | 申请日： | 2018-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN109612399A | 公开（公告）日： | 2019-04-12 |
| 发明（设计）人： | 任晓春;唐利孬;武瑞宏;叶茂;王俊清;田社权;袁永信 | 申请（专利权）人： | 中铁第一勘察设计院集团有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人： | 李罡 |
| 地址： | 710043*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 激光测距机 半导体激光器 位置变化数据 形变测量装置 激光发射端 激光测距 激光接收 被测物 控制盒 激光光束照射 数据传输接口 无线网络传输 测量精度高 光斑 测量横向 测量纵向 连续监测 位移变化 线缆接入 两路 测试 | ||
1.基于PSD和激光测距的位移形变测量装置，其特征在于：
包括激光发射端和激光接收端；激光发射端设置有激光测距机（1）、半导体激光器（2）和控制盒（4）；激光接收端设置有安装于被测物的PSD位置传感器（7）；激光测距机（1）、半导体激光器（2）和PSD位置传感器（7）均通过线缆接入控制盒（4）的数据传输接口；
激光测距机（1）和半导体激光器（2）的两路激光光束照射在PSD位置传感器（7），形成两个光斑，当被测物发生位移变化时，通过PSD位置传感器（7）测量横向位置变化数据，通过激光测距机（1）测量纵向位置变化数据。
2.根据权利要求1所述的基于PSD和激光测距的位移形变测量装置，其特征在于：
激光测距机（1）和半导体激光器（2）的发射端处于同一竖直平面内。
3.根据权利要求2所述的基于PSD和激光测距的位移形变测量装置，其特征在于：
激光测距机（1）、半导体激光器（2）和控制盒（4）安装于激光发射端设置的固定座（5）上，固定座（5）上设置有水平的安装平板，激光测距机（1）位于安装平板上方，半导体激光器（2）和控制盒（4）位于安装平板下方。
4.根据权利要求1所述的基于PSD和激光测距的位移形变测量装置，其特征在于：
控制盒（4）内存放有DC/DC电源板、SPC板、信号处理板、FPGA电路以及串口通信模块，用于将激光测距数据和PSD测位数据进行处理，并通过RS485接口进行通讯。
5.根据权利要求1所述的基于PSD和激光测距的位移形变测量装置，其特征在于：
激光测距机（1）为高精度相位式激光测距机。
6.根据权利要求1所述的基于PSD和激光测距的位移形变测量装置，其特征在于：
半导体激光器（2）为980nm波长的连续波激光器。
7.根据权利要求1所述的基于PSD和激光测距的位移形变测量装置，其特征在于：
PSD位置传感器（7）为二维两面型PSD位置传感器。
8.根据权利要求1所述的基于PSD和激光测距的位移形变测量装置，其特征在于：
激光测距机（1）和半导体激光器（2）的两路激光光束照射在PSD位置传感器（7），形成两个光斑，光斑中心距小于20mm。
9.基于PSD和激光测距的位移形变测量方法，其特征在于：
由以下步骤实现：
利用激光测距技术和PSD测位技术对目标建筑物三维位移形变进行测量，在被测量的目标建筑物上安装PSD位置传感器（7），利用激光测距机（1）和半导体激光器（2）发射激光光波同时照射到PSD位置传感器（7）上，当目标建筑物相对于发射端发生位移形变时，激光测距机（1）对目标建筑物的纵向位移变形进行测量，PSD位置传感器（7）对目标建筑物的横向位移变形进行测量。
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