[发明专利]一种IGBT铝碳化硅散热基板的阻焊方法有效
申请号: | 201811124403.1 | 申请日: | 2018-09-26 |
公开(公告)号: | CN109243984B | 公开(公告)日: | 2020-03-10 |
发明(设计)人: | 刘昌涛;陈巧霞;刘栋 | 申请(专利权)人: | 西安明科微电子材料有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L23/367;H01L23/492 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 高博 |
地址: | 710100 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 igbt 碳化硅 散热 方法 | ||
1.一种IGBT铝碳化硅散热基板的阻焊方法,其特征在于,将铝碳化硅基板进行表面处理,然后进行电镀镍,最后对电镀后的铝碳化硅基板进行激光阻焊,包括以下步骤:
S1、将铝碳化硅基板进行表面处理,然后电镀一层厚度10~25μm的镍;
S2、调整激光发射器功率5~50KW,使激光焦点落在镀镍层上;
S3、控制激光刻蚀深度与宽度,将镀镍层打掉,露出铝碳化硅表面铝层,控制激光刻蚀线条沿芯片边缘形成第一个线框;
S4、在步骤S3制备的第一个线框外,再用激光刻蚀第二个线框,控制激光刻蚀深度,打掉镀层和铝层,露出铝碳化硅层。
2.根据权利要求1所述的IGBT铝碳化硅散热基板的阻焊方法,其特征在于,步骤S3中,激光刻蚀深度为12~30μm,宽度为25~40μm。
3.根据权利要求1所述的IGBT铝碳化硅散热基板的阻焊方法,其特征在于,步骤S4中,激光刻蚀的深度为30~50μm,激光刻蚀的线框宽度为30~40μm。
4.根据权利要求3所述的IGBT铝碳化硅散热基板的阻焊方法,其特征在于,两个线框的间距为0.5~1.0mm。
5.根据权利要求1所述的IGBT铝碳化硅散热基板的阻焊方法,其特征在于,电镀镍的厚度为15~25μm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造