[发明专利]一种低成本重布线凸点封装结构的制造方法有效

专利信息
申请号: 201811124910.5 申请日: 2018-09-26
公开(公告)号: CN109326575B 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 任玉龙;孙鹏 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498
代理公司: 上海智晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31313 代理人: 张东梅
地址: 214028 江苏省无锡市新区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 低成本 布线 封装 结构 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种低成本重布线凸点封装结构的制造方法,包括:

在晶圆上形成PVD种子层;

在PVD种子层表面形成RDL层光刻胶;

对形成的RDL层光刻胶进行图形化曝光,形成RDL曝光区域;

在曝光后的RDL层光刻胶上形成Bump层光刻胶;

进行Bump层光刻胶的图像化曝光,形成Bump曝光区域;

显影,去除RDL曝光区域和Bump曝光区域,形成Bump和RDL电镀窗口;

电镀,在所述RDL曝光区域填充金属形成RDL结构,在所述Bump曝光区域填充金属形成Bump结构;以及

去除光刻胶及外露的PVD种子层。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述Bump层光刻胶的厚度大于所述RDL层光刻胶的厚度,Bump层光刻胶和RDL层光刻胶都为正胶。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电镀形成RDL和Bump结构的Bump为导电铜柱。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电镀形成RDL和Bump结构的Bump为锡银焊球或锡银铜焊球。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,还包括对Bump结构进行回流焊。

6.一种低成本重布线凸点封装结构的制造方法,包括:

在晶圆上形成PVD种子层;

在PVD种子层表面形成RDL层光刻胶;

对形成的RDL层光刻胶进行图形化曝光,形成RDL曝光区域;

对RDL层光刻胶进行显影,去除所述RDL曝光区域;

在显影后的RDL层光刻胶上形成Bump层光刻胶;

进行Bump层光刻胶的图像化曝光,形成Bump曝光区域;

显影,去除所述Bump曝光区域,形成Bump电镀窗口;

电镀,在所述RDL曝光区域填充金属形成RDL结构,在所述Bump曝光区域填充金属形成Bump结构;以及

去除光刻胶及外露的PVD种子层。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述Bump层光刻胶为粘覆的光刻胶干膜,其厚度大于所述RDL层光刻胶的厚度。

8.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述电镀形成RDL和Bump结构的Bump为导电铜柱。

9.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述电镀形成RDL和Bump结构的Bump为锡银焊球或锡银铜柱。

10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,还包括对Bump结构进行回流焊。

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