[发明专利]地震偏移成像方法及装置在审

专利信息
申请号: 201811128030.5 申请日: 2018-09-26
公开(公告)号: CN108845355A 公开(公告)日: 2018-11-20
发明(设计)人: 林朋;彭苏萍;赵惊涛;崔晓芹 申请(专利权)人: 中国矿业大学(北京)
主分类号: G01V1/28 分类号: G01V1/28
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 梁香美
地址: 100000 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 反射系数模型 偏移成像 波场 地震偏移成像 残差目标函数 目标函数梯度 成像条件 成像效果 偏移 迭代 时移 更新 地震观测 最小二乘算法 共轭梯度法 模拟数据 目标反射 系数模型 传统的 计算量 求解 预设 缓解
【权利要求书】:

1.一种地震偏移成像方法,其特征在于,包括:

基于待处理区域的地震观测数据和待求解模拟数据建立波场残差目标函数;

结合当前反射系数模型和所述波场残差目标函数确定当前波场残差值,其中,所述当前反射系数模型用于确定所述待求解模拟数据;

基于时移成像条件的偏移方法对所述当前波场残差值进行偏移,以确定得到目标函数梯度;

基于所述目标函数梯度采用共轭梯度法确定更新后的反射系数模型;

将所述更新后的反射系数模型作为所述当前反射系数模型进行更新迭代,直至达到预设迭代次数,得到目标反射系数模型,进而得到偏移成像结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于待处理区域的地震观测数据和待求解模拟数据建立波场残差目标函数包括:

获取所述待处理区域的地震观测数据和偏移速度体;

通过L2范数建立所述地震观测数据与所述待求解模拟数据之间的波场残差目标函数。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,结合当前反射系数模型和所述波场残差目标函数确定当前波场残差值包括:

根据模拟数据计算算式dmod=Lmk计算所述待求解模拟数据,其中,dmod表示所述待求解模拟数据,L表示Born近似条件下依赖于速度信息的地震波场正演算子,mk表示所述当前反射系数模型;

根据所述波场残差目标函数的计算算式计算所述当前波场残差值,其中,E(mk)表示所述当前波场残差值,dmod表示所述待求解模拟数据,dobs表示所述地震观测数据。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,基于时移成像条件的偏移方法对所述当前波场残差值进行偏移,以确定得到目标函数梯度包括:

通过所述偏移速度体将检波点波场进行反向延拓,并通过所述偏移速度体将震源波场进行正向延拓;

基于时移成像条件对反向延拓后的检波点波场和正向延拓后的震源波场进行成像,得到关于时移量的偏移剖面;

在所述关于时移量的偏移剖面中将零时刻的偏移剖面作为所述目标函数梯度。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,基于时移成像条件对所述反向延拓后的检波点波场和所述正向延拓后的震源波场进行成像包括:

根据基于时移成像条件的成像算式R(mk,t,τ)=Pr(mk,t+τ)*Ps(mk,t-τ)进行成像,得到所述关于时移量的偏移剖面,其中,R(m,t,τ)表示所述关于时移量的偏移剖面,*表示时间域互相关,t表示时间,τ表示时移成像条件中的时移量,Pr表示所述反向延拓后的检波点波场,Ps表示所述正向延拓后的震源波场,mk表示所述当前反射系数模型。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述目标函数梯度采用共轭梯度法确定更新后的反射系数模型包括:

基于所述目标函数梯度确定更新步长和更新方向;

根据反射系数模型更新算式mk+1=mkkdk计算所述更新后的反射系数模型,其中,mk+1表示所述更新后的反射系数模型,mk表示当前反射系数模型,αk表示所述更新步长,dk表示所述更新方向。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国矿业大学(北京),未经中国矿业大学(北京)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811128030.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top