[发明专利]低压扩散炉低压扩散工艺有效
申请号: | 201811131609.7 | 申请日: | 2018-09-27 |
公开(公告)号: | CN109285766B | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
发明(设计)人: | 张育 | 申请(专利权)人: | 嘉兴金瑞光伏科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/223 | 分类号: | H01L21/223;H01L31/18 |
代理公司: | 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 33253 | 代理人: | 程开生 |
地址: | 314000 浙江省嘉兴*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 低压 扩散 工艺 | ||
1.一种低压扩散炉低压扩散工艺,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1:将已制绒的待处理硅片匀速推入低压扩散炉,在持续通入大氮的同时将低压扩散炉内的第一至第五温度区域升温至第一预定温度;
步骤S2:维持第一至第五温度区域在第一预定温度的同时将低压扩散炉抽空至真空;
步骤S3:维持第一至第五温度区域在第一预定温度的同时持续通入大氮;
步骤S4:维持第一至第五温度区域在第一预定温度的同时将低压扩散炉抽空至真空;
步骤S5:维持第一至第五温度区域在第一预定温度的同时持续通入氧气和大氮;
步骤S6:维持第一至第五温度区域在第一预定温度的同时持续通入氧气、大氮和小氮;
步骤S7:将低压扩散炉的第一至第五温度区域升温至第二预定温度的同时持续通入氧气、大氮和小氮;
步骤S8:维持第一至第五温度区域在第二预定温度的同时持续通入大氮;
步骤S9:将低压扩散炉的第一至第五温度区域降温至第三预定温度的同时持续通入氧气和大氮;
步骤S10:将低压扩散炉的第一至第五温度区域升温至第四预定温度的同时持续通入大氮;
步骤S11:将低压扩散炉的第一至第五温度区域降温至第三预定温度的同时持续通入大氮,同时将待处理硅片匀速推出低压扩散炉;
上述第一预定温度为:第一至第五温度区域依次是815℃、800℃、800℃、800℃、800℃;
上述第二预定温度为:第一至第五温度区域依次是915℃、868℃、908℃、908℃、849℃。
2.根据权利要求1所述的低压扩散炉低压扩散工艺,其特征在于:
上述第三预定温度为:第一至第五温度区域依次是790℃、790℃、790℃、790℃、790℃;
上述第四预定温度为:第一至第五温度区域依次是800℃、800℃、800℃、800℃、800℃。
3.根据权利要求1或者2中任一权利要求所述的低压扩散炉低压扩散工艺,其特征在于:
步骤S1中,持续通入大氮的流量为5000sscm;
步骤S3中,持续通入大氮的流量为2000sscm;
步骤S5中,持续通入氧气的流量为500sscm,持续通入大氮的流量为1400sscm;
步骤S6中,持续通入氧气的流量为300sscm,持续通入大氮的流量为1400sscm,持续通入小氮的流量为120sscm;
步骤S7中,持续通入氧气的流量为300sscm,持续通入大氮的流量为1400sscm,持续通入小氮的流量为120sscm;
步骤S8中,持续通入大氮的流量为1400sscm;
步骤S10中,持续通入大氮的流量为19000sscm;
步骤S11中,持续通入大氮的流量为6000sscm。
4.根据权利要求1或者2中任一权利要求所述的低压扩散炉低压扩散工艺,其特征在于:
步骤S1中,持续通入大氮的时间为940s;
步骤S2中,抽取真空的时间为400s;
步骤S3中,持续通入大氮的时间为400s;
步骤S4中,抽取真空的时间为100s;
步骤S5中,持续通入氧气和大氮的时间为100s;
步骤S7中持续通入氧气、大氮和小氮的时间为300s;
步骤S8中,持续通入大氮的时间为600s;
步骤S10中,持续通入大氮的时间为250s;
步骤S11中,持续通入大氮的时间为940s。
5.根据权利要求1或者2中任一权利要求所述的低压扩散炉低压扩散工艺,其特征在于:
步骤S1中,炉内压强为1030mbar;
步骤S2中,炉内压强为120mbar;
步骤S3中,炉内压强为120mbar;
步骤S4中,炉内压强为120mbar;
步骤S5中,炉内压强为120mbar;
步骤S6中,炉内压强为120mbar;
步骤S7中,炉内压强为120mbar;
步骤S8中,炉内压强为120mbar;
步骤S10中,炉内压强为1030mbar;
步骤S11中,炉内压强为1030mbar。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于嘉兴金瑞光伏科技有限公司,未经嘉兴金瑞光伏科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811131609.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:沉积IV族半导体的方法及相关的半导体器件结构
- 下一篇:功率器件
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造