[发明专利]一种测量晶振元件DLD的装置

说明书

本发明公开了一种测量晶振元件DLD的装置，包括底板、支撑杆、顶板、敞口壳体、导轨、伺服电机、螺杆、滚珠螺母、滑块、连接条、U型条、连接块、羊毛刷、电动推杆、连接杆、压块、样品条、橡胶块、晶振本体、清洁梳齿、第一连接线、塑料胶套、导线、接触头、弹簧、限位环、存线盒、转轴、绕线轮、扭簧、第二连接线、固定箱、电路板、任意波形发生器、数字示波器、输出接口、高频无感可调电阻、数显功率计、风扇、第一滤网、干燥剂层、排气扇、第二滤网、单片机和把手。本发明通过样品条可一次上多个晶振本体，通过水平驱动结构带动用于测量的接触头进行移动，可逐个进行晶振本体的测量，从而避免工作人员反复拿取晶振本体进行上下料。

技术领域

本发明涉及一种测量DLD的装置，具体为一种测量晶振元件DLD的装置，属于压电晶体元件应用技术领域。

背景技术

晶振元件作为一类基础电子元器件被广泛使用在各类模拟或数字电路中，为电子电路提供高稳定度的时钟信号；晶振元件的DLD特性对晶振元件在使用过程中的稳定性至关重要，它揭示了晶体元件谐振电阻随激励电平变化的特性以及激励电平信赖性。

晶振元件在进行测量时，晶振元件的引脚需要与测量装置进行接触，构成回路，在进行晶振元件上料时，一般通过手动进行，一个晶振元件测量后，需要取下然后更换新的晶振元件，测量时可能需要人工反复拿取晶振本体进行上下料，工作人员的劳动强度较大，测量效率可能较低；在进行晶振元件的测量时，引脚上可能会粘覆灰尘，可能会影响晶振元件DLD测量的准确性。因此，针对上述问题提出一种测量晶振元件DLD的装置。

发明内容

本发明的目的就在于为了解决上述问题而提供一种测量晶振元件DLD的装置。

本发明通过以下技术方案来实现上述目的，一种测量晶振元件DLD的装置，包括底板、样品条、第一连接线、第二连接线、水平驱动结构以及夹紧结构，所述底板通过支撑杆固接有顶板；

所述水平驱动结构包括固定安装在底板顶部的敞口壳体以及滑块，所述敞口壳体底部嵌合安装有导轨，所述导轨与滑块滑动连接，所述敞口壳体的内侧壁转动连接有螺杆，所述螺杆表面螺纹连接有滚珠螺母，且滚珠螺母的底部与滑块顶部固接，所述敞口壳体的一侧外壁固定安装有伺服电机，所述伺服电机的输出轴与螺杆的一端固接，所述滚珠螺母的顶部通过连接条固接有U型条，所述U型条的一侧通过连接块固定安装有羊毛刷，所述U型条的顶部内侧开有凹孔，所述凹孔内部通过弹簧弹性连接有接触头，所述接触头数目为两个，且两个接触头分别与样品条的正面和背面接触，所述第一连接线和第二连接线均由塑料胶套和两个导线组成，所述塑料胶套包裹在两个导线表面，所述第一连接线内部的导线一端与接触头表面焊接；

所述夹紧结构包括固定安装在顶板底部的电动推杆以及设置在样品条两侧的压块，所述电动推杆数目为两个，且两个电动推杆之间对称设置，所述电动推杆的输出端固接有连接杆，所述连接杆的末端与压块一侧固接；

所述样品条顶部固定安装有若干个等间距分布的橡胶块，且相邻的两个橡胶块之间放置晶振本体；

所述顶板的顶部固定安装有固定箱，且固定箱内部固定安装有电路板，所述固定箱的正面嵌合安装有任意波形发生器、数字示波器、输出接口、高频无感可调电阻和数显功率计，所述数显功率计和输出接口均与嵌合安装在电路板表面的单片机电性连接，所述数字示波器通过任意波形发生器与单片机电性连接，所述高频无感可调电阻嵌合安装在电路板表面，所述第一连接线的末端与第二连接线的一端连接，且第二连接线的末端与电路板表面焊接；

所述固定箱的两侧的开口处分别固定安装有风扇和排气扇，所述风扇远离固定箱一侧固定安装有第一滤网，所述排气扇远离固定箱一侧固定安装有第二滤网，所述第一滤网表面铺设干燥剂层。

优选的，所述连接杆为U型结构，且连接杆数目为两个，两个所述连接杆分别位于样品条顶部两侧。

优选的，所述导轨、螺杆以及样品条均位于同一竖直平面上，且导轨和螺杆均与样品条平行设置。