[发明专利]一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具在审
申请号: | 201811133831.0 | 申请日: | 2018-09-27 |
公开(公告)号: | CN109141963A | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
发明(设计)人: | 林东明;陈新军;宣思鹏;韩飞;韦记朋 | 申请(专利权)人: | 上海海洋大学 |
主分类号: | G01N1/08 | 分类号: | G01N1/08;G01N1/36 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201306 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 痕量样品 封装包 内压 痕量 同位素测定 多次重复 实验工具 包埋 称量 取样 稳定同位素 称量偏差 时间成本 实验成本 一体结构 包埋盒 槽部 匙部 压板 样本 污染 | ||
1.一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具,包括痕量样品提取匙和封装包埋器两个器具,所述痕量样品提取匙为匙部、包埋盒槽部的一体结构,所述封装包埋器包括压板、左内压档、右内压档、高内压楔和低内压楔结构,所述压板一面上固定有左内压档、右内压档、高内压楔和低内压楔,用于封装包埋盒,另一面为为全平面设计,用于压实包埋盒。
2.根据权利要求1所述的一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具,其特征在于,所述的匙部为细杆状延长型,长约50.0mm,直径1.5mm;所述匙部的末端为圆形的浅凹槽,直径1.5mm,最大槽深0.3mm。
3.根据权利要求1所述的一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具,其特征在于,所述的包埋盒槽部为扁平延长型,长约60.0mm,宽约11.0mm,厚约3.0mm;所述包埋盒的末端中部为开放式长方形凹槽,用于置入并托稳包埋盒,凹槽长约15.0mm,槽宽约5.0mm,槽深约1.8mm。
4.根据权利要求1-3任一所述的一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具,其特征在于,所述的压板长约20.0mm,宽约10.5mm,厚约0.6mm。
5.根据权利要求4所述的一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具,其特征在于,所述的左、右内压档用于内压包埋盒的窄边框,档高约3.0mm,基部宽约3.5mm,厚约0.5mm,内侧为1/4圆弧结构,半径3.0mm。
6.根据权利要求5所述的一种同位素测定样品痕量取样及包埋器具,其特征在于,所述的高、低内压楔用于内压包埋盒的宽边框,高内压楔高约2.5mm,基部宽约3.0mm,楔斜角约45°;低内压楔高约1.8mm,基部宽约3.0mm,楔斜角约30°。
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