[发明专利]一种测量硅光相干接收机光电响应度的装置和方法有效
申请号: | 201811134088.0 | 申请日: | 2018-09-27 |
公开(公告)号: | CN109194411B | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 陈宏刚;张博;丁兰;梁雪瑞;杨俊麒;胡毅;马卫东 | 申请(专利权)人: | 武汉光迅科技股份有限公司 |
主分类号: | H04B10/61 | 分类号: | H04B10/61;H04B10/079 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹;李相雨 |
地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 相干 接收机 光电 响应 装置 方法 | ||
本发明实施例提供一种测量硅光相干接收机光电响应度的装置和方法,其中装置包括光源、硅光相干接收机、光功率计、电流测量单元、光路转换单元和处理单元;处理单元用于控制光路转换单元将光源发出的信号光切换至光功率计以及硅光相干接收机的信号输入端和/或本征输入端;光功率计用于测量信号输入端和/或本征输入端的输入光功率;电流测量单元用于测量信号输入端的第一偏振电流和第二偏振电流,和/或本征输入端的本征输出电流;处理单元还用于计算信号输入端的光电响应度,和/或计算本征输入端的光电响应度。本发明实施例提供的装置和方法,结构简单,操作方便,价格低廉,自动化程度高,测试结果精确,测试数据自动生成无需人工处理。
技术领域
本发明实施例涉及光通信技术领域,尤其涉及一种测量硅光相干接收机光电响应度的装置和方法。
背景技术
硅光相干接收机是基于硅和硅基衬底材料(如SiGe/Si、SOI等),采用现有CMOS工艺将信号光功率监控二极管、光电二极管、信号光可调衰减器、偏振分束器、90°相干光混频器等部分单片集成于相干接收机的硅光芯片内,此工艺结合了集成电路技术的超大规模、超高精度制造的特性和光子技术超高速率、超低功耗的优势。
但是,硅光相干接收机也存在如下缺点:损耗比传统工艺的器件偏大,器件光电指标随波长变化即WDL偏大。而硅光相干接收机的光电响应度指标就是用来直接评估器件损耗的,不同波长下的光电响应度还可以用来评估器件的WDL指标,因此硅光相干接收机的光电响应度测试非常重要。
当前测量硅光相干接收机的光电响应度通常采用人工手动测试,需要昂贵的单波长可调激光器外加手动偏振控制器并通过人眼读取电流源显示数据,操作非常不方便同时效率极其低下。因此,如何简单准确的测量硅光相干接收机的光电响应度对于器件指标的评定及后续规模化的生产有极其重要的意义。
发明内容
本发明实施例提供一种测量硅光相干接收机光电响应度的装置和方法,用以解决现有的硅光相干接收机光电响应度测量不便且效率低下的问题。
第一方面,本发明实施例提供一种测量硅光相干接收机光电响应度的装置,包括光源、硅光相干接收机、光功率计、电流测量单元、光路转换单元和处理单元;硅光相干接收机与电流测量单元连接,处理单元分别与光功率计、电流测量单元和光路转换单元连接;
处理单元用于控制光路转换单元将光源发出的信号光切换至光功率计以及硅光相干接收机的信号输入端和/或本征输入端;
光功率计用于测量信号输入端和/或本征输入端的输入光功率;
电流测量单元用于测量信号输入端的第一偏振电流和第二偏振电流,和/或本征输入端的本征输出电流;
处理单元还用于根据信号输入端的输入光功率以及第一偏振电流和第二偏振电流计算信号输入端的光电响应度,和/或根据本征输入端的输入光功率与本征输出电流计算本征输入端的光电响应度。
第二方面,本发明实施例提供一种测量硅光相干接收机光电响应度的方法,包括:
处理单元控制光路转换单元,将光源发出的信号光切换至光功率计,光功率计测量硅光相干接收机的信号输入端和/或本征输入端的输入光功率;
处理单元控制光路转换单元,将光源发出的信号光切换至硅光相干接收机的信号输入端和/或本征输入端,电流测量单元测量信号输入端的第一偏振电流和第二偏振电流,和/或本征输入端的本征输出电流;
处理单元根据信号输入端的输入光功率以及第一偏振电流和第二偏振电流计算信号输入端的光电响应度,和/或根据本征输入端的输入光功率与本征输出电流计算本征输入端的光电响应度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉光迅科技股份有限公司,未经武汉光迅科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811134088.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。