[发明专利]光发射模组及其损坏的检测方法、深度获取装置和电子设备

权利要求书

1.一种光发射模组，其特征在于，所述光发射模组包括：

光源，所述光源用于发射激光，所述光源包括多个发光元件，所述多个发光元件划分为第一发光元件组和第二发光元件组；

光学元件，所述光学元件用于扩散或扩束所述激光；

镜筒，所述镜筒包括相背的第一面及第二面，所述镜筒开设贯穿所述第一面与所述第二面的收容腔，所述镜筒还包括位于所述收容腔内的内表面及与所述收容腔内的内表面相背的外表面，所述内表面上开设有多个凹槽，所述多个凹槽关于所述光学元件的中心轴线对称且均匀分布，所述多个凹槽设置在所述收容腔内的内表面的靠近所述光源的区域；

多个光检测器，多个所述光检测器位于所述光源与所述光学元件之间，多个所述光检测器用于接收所述激光以形成多个光检测电信号，所述光学元件包括相背的入光面和出光面，多个所述光检测器分别设置在多个所述凹槽内，多个所述光检测器关于所述光学元件的中心轴线对称且均匀分布，每个所述光检测器在所述光发射模组未发生损坏时接收的激光基本保持一致，多个所述光检测器包括第一侧光检测器和第二侧光检测器，与所述第一侧光检测器对应的光检测电信号为第一光检测电信号，与所述第二侧光检测器对应的光检测电信号为第二光检测电信号；所述第一侧光检测器和所述第一发光元件组对应，所述第二侧光检测器和所述第二发光元件组对应；和

处理器，所述处理器用于获取多个所述光检测电信号、以及根据多个所述光检测电信号之间的差值判断所述光学元件的损坏情况；

在所述第一光检测电信号与所述第二光检测电信号之间的差值大于倾斜阈值，且所述第一光检测电信号和所述第二光检测电信号与预定电信号之间的差值均大于第一脱落阈值时，判断所述光学元件向靠近所述第一发光元件组的方向脱落并降低所述第一发光元件组的功率；

在第二光检测电信号与第一光检测电信号之间的差值大于倾斜阈值，且所述第一光检测电信号和所述第二光检测电信号与预定电信号之间的差值均大于第一脱落阈值时，判断所述光学元件向靠近所述第二发光元件组的方向脱落并降低所述第二发光元件组的功率；

在所述第一光检测电信号和所述第二光检测电信号与所述预定电信号之间的差值均小于第二脱落阈值时，判断所述光学元件向远离所述光源的方向脱落并关闭所述光源，所述第二脱落阈值小于所述第一脱落阈值。

2.根据权利要求1所述的光发射模组，其特征在于，所述光学元件为扩散器，所述扩散器用于扩散所述激光。

3.根据权利要求1所述的光发射模组，其特征在于，所述光学元件为衍射光学元件，所述衍射光学元件包括衍射微结构，所述衍射微结构用于扩束所述激光，

所述衍射微结构设置在所述入光面上；和/或

所述衍射微结构设置在所述出光面上。

4.根据权利要求1所述的光发射模组，其特征在于，多个所述光检测器均设置在所述光学元件的周缘处。

5.根据权利要求1所述的光发射模组，其特征在于，所述第一面开设有与所述收容腔连通的安装槽，所述光学元件安装在所述安装槽内。

6.根据权利要求5所述的光发射模组，其特征在于，多个所述光检测器设置在所述收容腔内的内表面。