[发明专利]基于超宽波长高反射的深截止窄带滤光片及光学仪器

权利要求书

1.一种基于超宽波长高反射的深截止窄带滤光片，其特征在于，包括依次设置的双金属-三诱透滤光片、第一基底、全介质窄带滤光片、光学胶层、第二基底、双金属-三诱透改性滤光片；

所述的双金属-三诱透滤光片由依次设置的前诱透膜、银膜、中诱透膜、银膜、后诱透膜组成；

所述的双金属-三诱透改性滤光片由依次设置的前诱透膜、银膜、中诱透膜、银膜、后诱透膜组成；

所述的全介质窄带滤光片由高折射率的二氧化钛和低折射率的氟化镁交替的多层双半波结构组成。

2.根据权利要求1所述的基于超宽波长高反射的深截止窄带滤光片，其特征在于，所述的第一基底和第二基底为光学玻璃或光学晶体。

3.根据权利要求1所述的基于超宽波长高反射的深截止窄带滤光片，其特征在于，所述的双金属-三诱透滤光片中，所述的中诱透膜为氟化镁单层膜，所述的前诱透膜和后诱透膜均由高折射率的二氧化钛和低折射率的氟化镁多层膜组成。

4.根据权利要求3所述的基于超宽波长高反射的深截止窄带滤光片，其特征在于，所述的双金属-三诱透滤光片的膜层数为14层，由第一基底向外，依次为前诱透膜、银膜、中诱透膜、银膜、后诱透膜，奇数层除第7层和第9层为银膜，其余为二氧化钛膜，偶数层均为氟化镁膜，第1至第14层的厚度依次为：53.27，69.70，34.56，69.47，56.17，205.38，40，348.83，40，200.77，55.86，249.79，44.11，188.42，单位为nm。

5.根据权利要求1所述的基于超宽波长高反射的深截止窄带滤光片，其特征在于，所述的双金属-三诱透改性滤光片中，所述的前诱透膜、中诱透膜和后诱透膜均由高折射率的二氧化钛和低折射率的氟化镁多层膜组成。

6.根据权利要求5所述的基于超宽波长高反射的深截止窄带滤光片，其特征在于，所述的双金属-三诱透改性滤光片的膜层数为17层，由第二基底向外，依次为前诱透膜、银膜、中诱透膜、银膜、后诱透膜；

其中，所述的前诱透膜由二氧化钛膜和氟化镁膜交替的6层膜组成，第1、3、5层为二氧化钛膜，第2、4、6层为氟化镁膜，其厚度分别为54.47，79.60，31.33，75.64，53.85，203.23，单位为nm；

第7层为银膜，厚度为40nm；

所述的中诱透膜依次由氟化镁、二氧化钛、氟化镁组成，第8层为氟化镁，第9层为二氧化钛，第10层为氟化镁，第8至10层的厚度为40.33，34.25，218.4，单位为nm；

第11层为银膜，厚度为40nm；

所述的后诱透膜由二氧化钛和氟化镁膜交替的6层膜组成，第12、14、16层为二氧化钛膜，第13、15、17层为氟化镁膜，第12至17层的厚度分别为50.6，99.17，55.88，224.98，50.52，193.22，单位为nm。

7.根据权利要求1所述的基于超宽波长高反射的深截止窄带滤光片，其特征在于，所述的全介质窄带滤光片的膜层数为24层，由第一基底向外，奇数层为H，H为四分之一波长光学厚度的高折射率二氧化钛层，偶数层除第6层和第18层为2L以外，其他偶数层均为L，L为四分之一波长光学厚度的低折射率氟化镁层。

8.根据权利要求1所述的基于超宽波长高反射的深截止窄带滤光片，其特征在于，所述的全介质窄带滤光片的膜层数为24层，由第一基底向外，奇数层除第23层为1.0219H以外，其余奇数层均为H，H为四分之一波长光学厚度的高折射率二氧化钛层，偶数层除第6层和第18层为2L以及第24层为0.6885L以外，其他偶数层均为L，L为四分之一波长光学厚度的低折射率氟化镁层。

9.一种光学仪器，包括信号采集系统，其特征在于，所述的信号采集系统采用权利要求1～8任一项所述基于超宽波长高反射的深截止窄带滤光片。