[发明专利]一种DMD倾斜扫描的3D打印装置及方法在审

专利信息
申请号: 201811141753.9 申请日: 2018-09-28
公开(公告)号: CN109228348A 公开(公告)日: 2019-01-18
发明(设计)人: 胡益铭;周金运 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: B29C64/264 分类号: B29C64/264;B29C64/393;B29C64/129;B29C64/245;B33Y30/00;B33Y50/02;B33Y10/00
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 林丽明
地址: 510006 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 位移平台 扫描系统 控制系统 点阵列 扫描 成型物体 打印装置 重复打印 曝光面 期望 成型 打印 幅面 曝光 扫描曝光 一次成型 光固化 线条 图案 重复
【权利要求书】:

1.一种DMD倾斜扫描的3D打印装置,其特征在于:包括控制系统,DMD倾斜扫描系统和位移平台,其中,所述的DMD倾斜扫描系统固定于位移平台之上,DMD倾斜扫描系统、位移平台均由所述的控制系统控制。

2.根据权利要求1所述的一种DMD倾斜扫描的3D打印装置,其特征在于:所述的控制系统包括计算机和三轴运动控制器,其中,所述的计算机的第一输出端连接DMD倾斜扫描系统;所述的计算机的第二输出端连接三轴运动控制器的输入端,三轴运动控制器的输出端连接位移平台。

3.根据权利要求2所述的一种DMD倾斜扫描的3D打印装置,其特征在于:所述的DMD倾斜扫描系统包括光源、反光镜、DMD芯片和物镜组,其中,所述的光源、反光镜和DMD芯片构成反射回路;

所述的光源发出的均匀光路经过反光镜反射到DMD芯片,再经过物镜组生成一组倾斜的倾斜点阵列,所述的倾斜点阵列投影到位移平台上。

4.根据权利要求3所述的一种DMD倾斜扫描的3D打印装置,其特征在于:所述的物镜组包括第一物体平面、第一成像平面、微透镜和空间滤波器阵列、第二物体平面、点阵列、投影面、第一镜头和第二镜头,其中,所述的第一物体平面固定于DMD芯片的反射面;所述的第一镜头固定于微透镜和空间滤波器阵列的上端面之上;所述的第二镜头固定于微透镜和空间滤波器阵列的下端面之下;所述的微透镜和空间滤波器阵列的上端面固定有第一成像平面,微透镜和空间滤波器阵列的下端面固定有第二物体平面;所述的投影面固定于第二镜头的下方,投影面上固定有点阵列;

经DMD芯片反射的光束依次经过第一物体平面、第一镜头、第一成像平面、微透镜和空间滤波器阵列、第二物体平面、第二镜头和点阵列,最终将生成的倾斜点阵列投影到投影面上。

5.根据权利要求4所述的一种DMD倾斜扫描的3D打印装置,其特征在于:所述的位移平台包括液槽、刮板、工作台、工作箱、弹簧和升降台,其中,所述的液槽用于盛载光敏树脂材料;所述的工作箱、弹簧和升降台均位于液槽内,工作箱和升降台通过若干根弹簧连接;所述的工作台的上端面设置有刮板,工作台固定在液槽的开口处;所述的升降台连接XYZ三轴控制系统;所述的点阵列投影到工作箱上。

6.根据权利要求5所述的一种DMD倾斜扫描的3D打印装置,其特征在于:所述的位移平台还包括电源,所述的电源设置在三轴运动控制器上,用于控制弹簧的伸缩。

7.根据权利要求6所述的一种DMD倾斜扫描的3D打印装置,其特征在于:所述的工作箱的材料采用轻型铁质;所述的工作箱的长宽小于液槽长宽的1/2,工作箱的高度加弹簧的极限压缩高度小于工作台高度,工作箱的高度加弹簧正常状态下的高度大于工作台的高度。

8.根据权利要求1所述的一种DMD倾斜扫描的3D打印装置,其特征在于:所述的DMD倾斜扫描系统还包括光滤波器,所述的光滤波器设置在光源的前方,用于挑选出所需的波长。

9.根据权利要求6或7所述的一种DMD倾斜扫描的3D打印装置的打印方法,其特征在于:包括以下步骤:

S1:曝光准备阶段:计算机控制三轴运动控制器工作,升降台带动工作箱沿Z轴下降一定高度,刮板在工作箱内匀涂一层光敏树脂材料,此时,电源通电,弹簧得电压缩,工作箱与工作台分离,工作箱暴露在光敏树脂材料中;

S2:倾斜点阵列形成阶段:计算机控制DMD芯片倾斜一个小角度,利用物镜组将经过DMD芯片反射的均匀光路转变成一组倾斜点阵列;

S3:扫描曝光阶段:计算机控制三轴运动控制器工作,此时电源断电,升降台断电,工作箱在弹簧回复力的作用下回到初始高度,扫描步骤S2中得到的倾斜点阵列,光敏树脂材料在工作箱与工作台形成的封闭空间内在XY面运动,倾斜点阵列上的亮点之间的重叠曝光产生线条或图案,并进行光固化,完成一层曝光面;

S4:重复步骤S1-S3,逐层完成曝光面,最终成型为期望物体。

10.根据权利要求9所述的一种DMD倾斜扫描的3D打印方法,其特征在于:步骤S3相关参数包括:短轴点阵列像素数量N,长轴点阵列像素数量M,点阵列在平行与扫描方向的直线上相互重叠的重复量K,光斑尺寸dsp,光斑间距d,倾斜角度θ和最小水平分量X,其中,

所述的光斑尺寸dsp是微透镜和空间滤波器阵列的焦距与物镜组缩放倍数的乘积;

所述的光斑间距d是DMD芯片间距与物镜组缩放倍数的乘积;

所述的倾斜角度θ的计算公式如下:

所述的最小水平分量X的计算公式如下:

X=dsinθ

扫描正常方向上的点重叠率计算公式如下:

扫描方向上的点重合率计算公式如下:

其中,Fr是DMD芯片帧频,Vs是扫描速度。

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