[发明专利]一种定时校准方法、装置及定时器

说明书

本发明涉及一种定时校准方法、装置及定时器，该方法包括：利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号；根据采样结果，对定时器进行校准。本发明提供的技术方案，利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号，根据采样结果，对定时器进行校准，解决了定时器内部低频时钟信号触发定时器计时时，定时不准的问题，满足用户低成本和低功耗的要求。

技术领域

本发明涉及芯片时钟校准技术领域，具体涉及一种定时校准方法、装置及定时器。

背景技术

目前IC(Integrated Circuit，集成电路)芯片的时钟来源包括：内部的RC振荡器和外部的晶体振荡器。其中，内部的RC振荡器包括：HIRC高频振荡器和LIRC低频振荡器；外部的晶体振荡器包括：HOSC高频振荡器和LOSC低频振荡器；外部的晶体振荡器，晶振精度高，且受温度影响小；而内部的内部的RC振荡器的时钟精度低，且受温度影响大。

IC芯片内部的HIRC和LIRC，在CP/FT(Chip Probing/Final Test，晶圆测试/功能测试)时会在常温下进行校准一次，使得输出的时钟频率接近理论值，并把校准值写入OTP(One-time Password，也称动态口令)中，以后IC芯片会使用这个值。但这个校准值不可修改，即只是一种温度下的校准值。

实际应用中，RTC(Real_Time Clock，驱动程序)定时器使用外部的低频时钟时，定时确实比较准确，但是有时候，为了节省一个外部的低频晶振，或者在低功耗休眠模式下，外部的晶振以及内部的HIRC都需要关闭，只能使用内部的LIRC。而使用内部的LIRC作为定时时钟时，由于温度影响，时钟频率会有2％左右的误差，这样必然导致定时不准。

发明内容

为至少在一定程度上克服相关技术中存在的问题，本发明提供一种定时校准方法、装置及定时器，以解决现有技术中定时器内部低频时钟信号触发定时器计时时，定时不准的问题。

根据本发明实施例的第一方面，提供一种定时校准方法，包括：

利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号；

根据采样结果，对定时器进行校准。

优选地，所述根据采样结果，对定时器进行校准，包括：

根据采样结果计算补偿值；

读取定时器的当前时间，并在当前时间上补偿所述补偿值，得到校准后的时间。

优选地，所述根据采样结果计算补偿值，包括：

获取预设采样时长内，所述高频时钟信号的实际采样次数；

计算预设采样时长内，所述高频时钟信号的理论采样次数；

根据所述实际采样次数与理论采样次数的差值，计算补偿值。

优选地，所述在当前时间上补偿所述补偿值，包括：

如果所述实际采样次数大于所述理论采样次数，则在当前时间上增加所述补偿值的绝对值；或者，

如果所述实际采样次数小于所述理论采样次数，则在当前时间上减小所述补偿值的绝对值。

优选地，所述高频时钟信号的频率与所述内部低频时钟信号的频率的比值大于预设数值。

优选地，所述高频时钟信号包括：定时器的外部高频时钟信号。

优选地，所述利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号，包括：

在定时器正常运行后，或者，定时器休眠唤醒后，利用高频时钟信号采样定时器的内部低频时钟信号。

优选地，所述内部低频时钟信号为LIRC时钟信号。