[发明专利]一种干扰测量方法、装置、芯片及存储介质有效
申请号: | 201811143470.8 | 申请日: | 2018-09-28 |
公开(公告)号: | CN110972156B | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 叶枫;唐小勇;刘凤威 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04W24/02 | 分类号: | H04W24/02;H04W24/08;H04L5/00 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 彭燕 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 干扰 测量方法 装置 芯片 存储 介质 | ||
1.一种干扰测量方法,应用在集成接入和回传IAB网络,所述IAB网络至少包括:
第一节点和第二节点,所述第二节点包括:第一功能实体和第二功能实体,其特征在于,所述方法包括:
所述第二节点的第二功能实体接收所述第一节点发送的参考信号配置消息,所述参考信号配置消息包括:第二节点的第二功能实体的参考信号资源指示信息,所述第二功能实体的参考信号资源指示信息包括:第二节点的第一功能实体的参考信号资源标识;
第二节点的第二功能实体根据接收到的参考信号配置消息中的第二节点的第一功能实体的参考信号资源标识,发送用于干扰测量的参考信号;
所述参考信号包括以下一种或者几种:同步信号、信道状态信息参考信号、解调参考信号、跟踪参考信号、相位跟踪参考信号和探测参考信号。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二节点的第二功能实体根据接收到的参考信号配置消息中的第二节点的第一功能实体的参考信号资源标识,发送用于干扰测量的参考信号具体包括:
所述第二节点的第二功能实体根据接收到的参考信号配置消息中的第二节点的第一功能实体的参考信号资源标识,确定所述第二节点的第一功能实体的参考信号资源标识对应的一个或者多个波束;
所述第二节点的第二功能实体使用所述确定的一个或者多个波束发送所述用于干扰测量的参考信号。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述参考信号资源指示信息还包括下面一种或多种的任意组合:
用于所述干扰测量的参考信号映射的时频资源位置、用于干扰测量的参考信号的功率控制、用于干扰测量的参考信号发送周期。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述用于干扰测量的参考信号的功率控制为第二节点的第一功能实体的发送功率。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
所述第一节点生成所述参考信号配置消息。
6.一种干扰测量方法,应用在集成接入和回传IAB网络,所述IAB网络至少包括:第一节点和第二节点以及第三节点,其中,第二节点以及第三节点均包括:第一功能实体和第二功能实体,其特征在于,所述方法包括:
所述第三节点的第一功能实体接收所述第一节点发送的干扰测量配置消息,所述干扰测量配置消息包括:干扰测量类型指示信息,所述干扰测量类型指示信息用于指示第三节点的第一功能实体使用第三节点的第二功能实体的接收波束进行干扰测量;
所述第三节点的第一功能实体根据所述干扰测量配置中的干扰测量类型指示,确定用于检测参考信号使用的接收波束为第三节点的第二功能实体的接收波束;
所述第三节点的第一功能实体通过所述确定的接收波束接收用于干扰测量的参考信号,所述参考信号是所述第二节点根据参考信号配置消息生成的。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述干扰测量配置消息还包括:所述第二节点的第二功能实体的参考信号资源指示信息,所述第二节点的第二功能实体的参考信号资源指示信息包括下面一种或者多种组合:
所述第二节点的第二功能实体的参考信号资源标识、所述第二节点的第二功能实体的用于所述干扰测量的参考信号发送功率,所述第二节点的第二功能实体的用于所述干扰测量的RS映射的时频资源位置,或者所述第二节点的第二功能实体的用于所述干扰测量的RS发送周期。
8.根据权利要求6或者7所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
所述第一节点生成干扰测量配置消息。
9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
所述第一节点发送参考信号配置消息给第二节点的第二功能实体,所述参考信号配置消息包括:所述第二节点的第二功能实体的参考信号资源指示信息。
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