[发明专利]天线测量系统中的连续线性调整被测物高度的装置在审

专利信息
申请号: 201811146288.8 申请日: 2018-09-29
公开(公告)号: CN109001544A 公开(公告)日: 2018-12-14
发明(设计)人: 韩世超;李然 申请(专利权)人: 泰姆瑞技术(深圳)有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G01R1/04
代理公司: 深圳市远航专利商标事务所(普通合伙) 44276 代理人: 田志远;张朝阳
地址: 518000 广东省深圳市宝安区新安街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 倾斜部 测试治具 被测物 抱杆主体 连接座孔 抱杆 天线测量系统 连续线性 固定端 开槽 定位精准 过盈配合 上下移动 相位中心 支撑固定 主体连接 偏离 升高 保证
【说明书】:

发明提供天线测量系统中的连续线性调整被测物高度的装置,包括用于固定被测物的测试治具主体、抱杆及调节件,抱杆上设有连接座孔,测试治具主体设于连接座孔内,且测试治具主体与连接座孔过盈配合;抱杆包括抱杆主体和倾斜部,倾斜部设于抱杆主体的上方并与抱杆主体连接,倾斜部上设有倾斜部开槽,调节件包括调节件主体和固定端,调节件主体与固定端连接,调节件主体与测试治具主体连接,且调节件主体可在倾斜部开槽内上下移动,倾斜部用于支撑固定端。本发明可以对测试治具主体上的被测物的升高或降低进行调整,且可连续性调节,操作简单,定位精准、稳定,被测物不会偏离相位中心,从而保证了测试结果的准确性。

技术领域

本发明涉及OTA或天线多探头球面测量的技术领域,尤其涉及天线测量系统中的连续线性调整被测物高度的装置。

背景技术

在OTA或天线多探头球面测量领域中,EUT治具平台一般为高度固定,不易调节,无法当被测物过大或过小时,相位中心严重偏离旋转中心,影响测试结果,这一问题始终存在,现有技术在测试中会使用各种不影响被测物电磁辐射的物体对被测物进行垫高处理,这种方法操作不方便、定位不精准,定位稳定性不好。

以上不足,有待改进。

发明内容

为了克服现有的技术的不足, 本发明提供天线测量系统中的连续线性调整被测物高度的装置。

本发明技术方案如下所述:

天线测量系统中的连续线性调整被测物高度的装置,包括用于固定被测物的测试治具主体、抱杆及调节件,所述抱杆上设有连接座孔,所述测试治具主体设于所述连接座孔内,且所述测试治具主体与所述连接座孔过盈配合;

所述抱杆包括抱杆主体和倾斜部,所述倾斜部设于所述抱杆主体的上方并与所述抱杆主体连接,所述倾斜部上设有倾斜部开槽,所述调节件包括调节件主体和固定端,所述调节件主体与所述固定端连接,所述调节件主体与所述测试治具主体连接,且所述调节件主体可在所述倾斜部开槽内上下移动,所述倾斜部用于支撑所述固定端。

进一步地,所述连接座孔的侧壁设有限位部,所述测试治具主体与所述连接座孔过盈配合并通过所述限位部固定。

进一步地,所述倾斜部开槽的长度对应在垂直方向的投影高度为测试治具主体高度可调范围。

进一步地,所述倾斜部开槽的数量为一个或多个;所述调节件的数量为一个或多个。

进一步地,所述测试治具主体包括固定座和连接座,所述固定座设于所述连接座的上方并与所述连接座连接,所述连接座与连接座孔过盈配合。

进一步地,所述抱杆主体上设有抱杆主体开槽,且所述抱杆主体开槽与所述倾斜部开槽连通。

进一步地,所述测试治具主体的底面设有凹槽,且所述凹槽与所述抱杆主体开槽对应。

进一步地,所述测试治具主体上设有固定件,所述固定件与所述测试治具主体连接,所述调节件与所述固定件连接。

进一步地,所述调节件为螺杆。

根据上述方案的本发明,其有益效果在于,本发明可以通过调节件、倾斜部及倾斜部开槽的相互配合,可以对测试治具主体上的被测物的升高或降低进行调整,并实现了被测物的升高或降低可连续性调节,且操作简单,定位精准、稳定,被测物不会偏离相位中心,从而保证了测试结果的准确性,同时也提高了工作效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的结构示意图;

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