[发明专利]一种芯片复位电路、复位方法及MCU芯片

权利要求书

1.一种芯片复位电路，其特征在于，包括：

读取及校验电路，适于读取所述芯片的存储器，以获取所述存储器内存储的配置信息和校验信息，并利用所述校验信息校验所述配置信息，当校验失败时反复读取所述存储器并进行校验，直至所述配置信息全部校验成功；

在所述配置信息全部校验成功后，所述芯片进入正常工作模式；

复位控制电路，适于在所述读取及校验电路校验失败时，生成芯片复位信号，所述芯片复位信号用于复位所述芯片的内部模块；

数据缓冲寄存器加载电路，适于在所述配置信息全部校验成功时，将所述配置信息和校验信息加载至所述芯片的数据缓冲寄存器；

监控电路，适于监控所述数据缓冲寄存器中的配置信息和校验信息，并根据监控结果控制所述读取及校验电路是否重新读取所述存储器；若所述监控结果表明所述数据缓冲寄存器中的配置信息校验失败，则所述复位控制电路再次生成所述芯片复位信号，以复位所述芯片的内部模块，所述监控电路控制所述读取及校验电路重新读取所述存储器中的所述配置信息和校验信息。

2.根据权利要求1所述的芯片复位电路，其特征在于，所述配置信息包括用户配置信息和系统配置信息，所述存储器包括可擦写信息区和不可擦写信息区，所述用户配置信息存储于所述可擦写信息区，所述系统配置信息存储于所述不可擦写信息区。

3.根据权利要求1所述的芯片复位电路，其特征在于，所述校验信息与配置信息满足反码校验逻辑。

4.根据权利要求1所述的芯片复位电路，其特征在于，所述存储器为非易失性存储器。

5.一种MCU芯片，其特征在于，包括：存储器，以及权利要求1至4任一项所述的芯片复位电路。

6.一种芯片复位方法，其特征在于，包括如下步骤：

读取所述芯片的存储器，以获取所述存储器内存储的配置信息和校验信息，并利用所述校验信息校验所述配置信息；

当校验失败时反复读取所述存储器并进行校验，直至所述配置信息全部校验成功，并且在校验失败时，生成芯片复位信号，所述芯片复位信号用于复位所述芯片的内部模块；在所述配置信息全部校验成功后，所述芯片进入正常工作模式；

当所述配置信息全部校验成功时，将所述配置信息和校验信息加载至所述芯片的数据缓冲寄存器；

监控所述数据缓冲寄存器中的配置信息和校验信息，并根据监控结果确定是否重新读取所述存储器；若所述监控结果表明所述数据缓冲寄存器中的配置信息校验失败，则再次复位所述芯片的内部模块，并重新读取所述存储器中的所述配置信息和校验信息。

7.根据权利要求6所述的芯片复位方法，其特征在于，所述配置信息包括用户配置信息和系统配置信息，所述存储器包括可擦写信息区和不可擦写信息区，所述用户配置信息存储于所述可擦写信息区，所述系统配置信息存储于所述不可擦写信息区。

8.根据权利要求6所述的芯片复位方法，其特征在于，所述校验信息与配置信息满足反码校验逻辑。

9.根据权利要求6所述的芯片复位方法，其特征在于，所述存储器为非易失性存储器。