[发明专利]一种布氏硬度测量辅助装置及其测量方法

说明书

本发明公开了一种布氏硬度测量辅助装置，包括分体式设置的圆柱状的支撑座和扁柱状的校对块，所述的校对块一侧设有水平的校对面，相应的，所述的支撑座一端设有水平的基准面，所述的支撑座内还设有与其同轴布置的容纳腔，所述的支撑座外围设有两层上下布置的锁紧组件，每层锁紧组件包括至少三个均匀分布且径向旋接于支撑座上的锁紧螺钉，每个锁紧螺钉的端部均设有球头部。本发明的布氏硬度测量辅助装置，解决了现有技术中不能准确测量小直径试样件压痕直径而造成无法计算出小直径试样件布氏硬度值的问题。本发明还公开了一种布氏硬度测量方法，利用该方法测量小直径试样的布氏硬度，能够快速测量布氏硬度，大大提高了工作效率，降低了劳动强度。

技术领域

本发明涉及硬度测试技术领域，更具体地说，它涉及一种布氏硬度测量辅助装置及其测量方法。

背景技术

金属材料布氏硬度测试方法为：对一定直径的硬质合金体施加一定的试验力，压入试样件表面，经规定的保持时间后，卸去试验力，测量试样压痕直径，再通过查表和计算求得该试样件的布氏硬度值。在布氏硬度测量过程中，其测量是使用读数显微镜在试样两个相互垂直的方向上分别测量压痕直径，取其平均值作为“压痕直径”，最后在进行查表。在正常使用的过程中，如图1所示，读数显微镜1的镜座2底面放在被测量工件3的平面上，此时读数显微镜的物镜4与镜座2底面的距离是固定的，即物镜4与被测量工件3平面之间的距离是一个固定值，测量试样压痕的直径才是准确的。然而在小直径的被测量工件3的测量中，如图2所示，由于与测量面接触的读数显微镜1上的测量口直径较大，小直径的被测量工件3的测量面不能与读数显微镜1的镜座2底面接触，使小直径的被测量工件3上的测量面与读数显微镜1的物镜4之间不能保证为一个固定值，测量时不能准确测量出压痕值，从而无法准确求出小直径的被测量工件3的布氏硬度值。

发明内容

本发明的目的之一在于提供一种结构紧凑，使用方便的布氏硬度测量辅助装置，用于辅助读数显微镜读取小直径试样件的压痕直径，解决了现有技术中不能准确测量小直径试样件压痕直径而造成无法计算出小直径试样件布氏硬度值的问题，有效提高小直径试样件的布氏硬度测量精度。

其目的之二在于提供一种操作方便的布氏硬度测量方法，利用该方法测量小直径试样的布氏硬度，能够快速测量布氏硬度，大大提高了工作效率，降低了劳动强度。

本发明的前一技术方案是这样的：一种布氏硬度测量辅助装置，包括分体式设置的圆柱状的支撑座和扁柱状的校对块，所述的校对块一侧设有水平的校对面，相应的，所述的支撑座一端设有水平的基准面，所述的支撑座内还设有与其同轴布置的容纳腔，所述的支撑座外围设有两层上下布置的锁紧组件，每层锁紧组件包括至少三个均匀分布且径向旋接于支撑座上的锁紧螺钉，每个锁紧螺钉的端部均设有球头部。

作为进一步地改进，所述支撑座的外径大于读数显微镜的镜座的外圆直径，且所述容纳腔的直径与读数显微镜的镜座的内孔直径相适配。

进一步地，所述的校对块外围设有至少一个朝所述校对面指向的第一箭头，相应的，所述的支撑座外围设有至少一个朝所述基准面指向的第二箭头。

进一步地，每个所述锁紧螺钉的外围均设有一截面，在该截面上设有沿锁紧螺钉轴向分布的刻度线。

进一步地，所述的校对块另一侧还设有防滑纹。

本发明的后一技术方案是这样的：一种布氏硬度测量方法，该方法是在压痕直径测量时，采用校对块校对被测量工件的压痕所在平面与支撑座的基准面平齐，并将被测量工件锁紧在支撑座上，使读数显微镜的镜座可支承在支撑座上。

进一步地，该方法的具体步骤如下：

S1、获取压痕，使用压力机对被测量工件施加一定压力，在保持一定时间后卸去压力，从而获得凹陷的压痕；