[发明专利]一种大尺寸CVD金刚石晶体的制备方法在审

专利信息
申请号: 201811156622.8 申请日: 2018-09-30
公开(公告)号: CN109161964A 公开(公告)日: 2019-01-08
发明(设计)人: 刘长江;王笃福;王希玮;王盛林 申请(专利权)人: 济南中乌新材料有限公司
主分类号: C30B29/04 分类号: C30B29/04;C30B25/20
代理公司: 济南日新专利代理事务所 37224 代理人: 王书刚
地址: 250101 山东省济南市高新区*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 金刚石 单晶晶片 拼接 金刚石单晶 设计图形 光刻胶 介质膜 晶体的 自支撑 去除 制备 生长 切割 等离子体刻蚀 化学气象沉积 微波等离子体 介质膜图形 表面清洗 生长缺陷 新表面 沉积 单晶 放入 厚层 坚膜 晶界 保证
【说明书】:

一种大尺寸CVD金刚石晶体的制备方法,包括以下步骤:(1)将HPHT法生长的金刚石单晶切割,形成HPHT金刚石单晶晶片;(2)进行表面清洗;(3)在HPHT金刚石单晶晶片上甩光刻胶并进行坚膜;形成设计图形;(4)利用CVD法沉积介质膜;(5)去除设计图形以外的光刻胶和介质膜,形成设计介质膜图形;(6)HPHT金刚石单晶晶片放入CVD设备中拼接,并进行等离子体刻蚀,形成新的表面;(7)利用微波等离子体化学气象沉积方法在形成的新表面上生长厚层CVD金刚石单晶;(8)切割去除拼接的HPHT金刚石单晶晶片,形成自支撑大尺寸CVD金刚石晶体。本发明抑制了利用CVD法生长的拼接金刚石单晶的晶界及附近生长缺陷,保证了晶体质量,得到了自支撑大尺寸CVD金刚石晶体。

技术领域

本发明涉及一种大尺寸、低缺陷的金刚石晶片的制备方法,属于晶体生长技术领域。

背景技术

金刚石晶片制备主要有高温高压法(HPHT)和微波等离子体化学气相沉积法(MPCVD)等。HPHT法合成金刚石需用金属触媒,其原子不可避免会渗入金刚石晶体内以杂质的形式存在而影响其纯度。目前高温高压法生长的大颗粒金刚石单晶晶片最大尺寸已经达到10mm以上,尺寸上离半导体外延需求还有一定的距离。而MPCVD法生长的高质量金刚石单晶可以达到完全无色透明,几乎没有任何杂质。目前CVD金刚石的最大尺寸已经达到12.5mm,马赛克拼接而成的已经达到25mm以上,但是存在晶体质量差和拼接缝多晶区等问题。

MPCVD金刚石单晶的尺寸仅受单晶衬底(晶种)尺寸的限制,有多大晶种就能生长多大的CVD金刚石单晶。通过侧向生长技术扩大CVD金刚石尺寸仍相当困难。因此将多个单晶晶种拼接生长成“马赛克”大单晶成为半导体用大尺寸金刚石晶片的重要方向。但是行业内“马赛克”金刚石拼接技术采用的是在HPHT单晶上多次利用CVD法生长金刚石,以CVD金刚石切片进行拼接,CVD金刚石生长的晶体质量相比于HPHT法金刚石单晶存在差距。

专利文献CN1651616公开的金刚石单晶合成衬底及其制造方法是一种由具有并排设置成统一平面取向的多个金刚石单晶衬底构造而成并通过利用气相合成在其上生长金刚石单晶体的方法。当金刚石单晶衬底并排设置时,所述多个金刚石单晶衬底中每一个的主平面的平面取向与平面{100}的偏差都小于1度,所排除的一个衬底的主平面的平面取向与平面{100}的偏差为1至8度,当金刚石单晶衬底并排设置时,所述一个金刚石单晶衬底设置在最外侧的外周缘部分中,而且该衬底设置成使得所述一个衬底主平面中的方向{100}朝向所设置的衬底外侧的外周缘方向,然后通过汽相合成生长金刚石单晶体,从而使从所述一个金刚石单晶衬底生长的金刚石单晶体覆盖其他衬底上生长的金刚石单晶体,来获得全面的整合。但是上述方法的横向外延生长效率较低,生长缓慢,且在拼接缝处容易形成多晶结构。

CN104651928A公开的金刚石同质外延横向生长方法,包括:步骤一、在单晶金刚石衬底表面沉积掩膜层;步骤二、在衬底沉积有掩膜层的表面进行图形化处理,形成图形化表面的衬底,该图形化衬底表面被分为同质外延生长区域和横向生长区域;步骤三、通过在同质外延生长区域进行金刚石同质外延生长,并在横向生长区域进行金刚石横向生长,在衬底上生长出单晶金刚石薄膜;因金刚石单晶生长的各向异性,在横向生长融合时容易形成多晶。上述方法主要涉及在单晶金刚石衬底表面外延金刚石薄膜,利用多区域横向外延的方法抑制同质衬底缺陷的延伸。

上述方法均没有解决大尺寸金刚石单晶在拼接缝处容易形成多晶和晶体质量差的问题。

发明内容

本发明提供一种大尺寸CVD金刚石晶体的制备方法,利用CVD方法在拼接的HPHT金刚石单晶片上生长大尺寸金刚石晶体,以解决现有技术中利用CVD生长金刚石在拼接缝处容易形成多晶和晶体质量差的问题。

本发明的大尺寸CVD金刚石晶体的制备方法,包括以下步骤:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于济南中乌新材料有限公司,未经济南中乌新材料有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811156622.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top