[发明专利]扫描单元、扫描链结构以及确定扫描链结构的方法

说明书

本发明实施例提供一种扫描单元、扫描链结构以及确定扫描链结构的方法，扫描单元包括扫描主单元和扫描从单元；扫描主单元与扫描从单元连接；扫描主单元用于在移位阶段根据输入的测试向量进行初始化；扫描从单元用于保存移位阶段最后一拍的测试值，并将所述测试值输入至扫描主单元；扫描主单元还用于在捕获阶段捕获所述测试值对应的输出值。由于扫描从单元保存了移位阶段最后一拍的测试值，并将所述测试值输入到扫描主单元中，使得在捕获阶段扫描主单元捕获到的测试值是移位阶段最后一拍的测试值。这样，即使功能数据端口D处的测试值已被刷新，扫描主单元在捕获阶段仍然能够捕获到正确的测试值，避免了捕获数据不准确的问题。

技术领域

本发明实施例涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种扫描单元、扫描链结构以及确定扫描链结构的方法。

背景技术

目前，为了实现集成电路的可测试性，通常以扫描链的形式实现集成电路。扫描链是可测试性设计的一种实现技术。它是将电路中的触发器替换为可扫描的触发器，并将这些可扫描的触发器首尾串联形成的可用于对触发器进行配置和观测的结构。扫描链中可以包括多个扫描单元。

基于扫描链的扫描测试包括移位阶段和捕获阶段。首先，在移位阶段，通过扫描数据端口SI将测试向量输入到扫描单元，扫描单元进行移位得到每一拍的测试值，并将测试值输出到组合逻辑，完成组合逻辑测试，然后进入捕获阶段，扫描单元通过扫描输出端口SO输出该测试值对应的输出值。

基于现有的扫描单元，由于在扫描测试中，移位阶段和捕获阶段均会产生较高的功耗，为了降低功耗，通常采用分拍捕获的方式，但是分拍捕获会导致捕获的数据不准确。

发明内容

本发明实施例提供一种扫描单元、扫描链结构以及确定扫描链结构的方法，以克服现有技术中的扫描单元在扫描测试过程中由于分拍捕获导致的捕获数据不准确的问题。

第一方面，本发明实施例提供一种扫描单元，包括：扫描主单元和扫描从单元；其中所述扫描主单元与所述扫描从单元连接；

所述扫描主单元用于在移位阶段根据输入的测试向量进行初始化；

所述扫描从单元用于保存所述移位阶段最后一拍的测试值，并将所述测试值输入至所述扫描主单元；

所述扫描主单元还用于在捕获阶段捕获所述测试值对应的输出值。

可选的，所述扫描从单元包括选择器和锁存器；

所述锁存器的功能输入端与功能数据端口连接，所述锁存器的测试输出端与所述选择器的第一输入端连接，所述锁存器的时钟信号输入端用于输入状态控制信号；所述选择器的第二输入端与所述功能数据端口连接，所述选择器的输出端与所述扫描主单元连接；

其中，所述锁存器用于根据所述状态控制信号，在所述移位阶段结束后保存所述移位阶段最后一拍的测试值，并将所述测试值传输至所述选择器，所述选择器将所述测试值传输至所述扫描主单元。

可选的，所述扫描从单元还包括：状态控制模块，所述状态控制模块与所述锁存器的时钟输入端连接；

所述状态控制模块用于在所述移位阶段控制所述锁存器处于打开状态，在所述移位阶段结束后控制所述锁存器处于关闭状态。

可选的，所述状态控制模块为与门；

所述与门的第一输入端用于输入测试模式信号，所述与门的第二输入端用于输入扫描使能信号，所述与门的输出端与所述锁存器的时钟信号输入端连接；

所述与门用于在所述移位阶段控制所述锁存器处于打开状态，在所述移位阶段结束后控制所述锁存器处于关闭状态。

可选的，所述扫描主单元为单边触发扫描单元结构或双边触发扫描单元结构。