[发明专利]一种样本重测方法和样本分析装置

权利要求书

1.一种样本重测方法，包括一缓存区，其特征在于，还包括：

控制将因测试项目所需耗材不足而未进行该项目吸样的样本调度到所述缓存区；

控制所述样本在缓存区等待所述测试项目缺少的耗材的添加，以进行因耗材导致的重测。

2.如权利要求1所述的样本重测方法，其特征在于，所述控制所述样本在缓存区等待所述测试项目缺少的耗材的添加，包括：当检测到耗材补充完毕的信息，则控制将所述样本从缓存区调度到吸样位进行吸样，以进行因耗材导致的重测。

3.如权利要求1所述的样本重测方法，其特征在于，所述控制所述样本在缓存区等待所述测试项目缺少的耗材的添加，包括：

当在一预设等待时间内检测到耗材补充完毕的信息，则控制将所述样本从缓存区调度到吸样位进行吸样，以进行因耗材导致的重测；

当在所述预设等待时间内未检测到耗材补充完毕的信息，则控制将所述样本调度到回收区以供回收。

4.如权利要求1所述的样本重测方法，其特征在于，还包括：

控制已进行非重测的项目吸样的样本调度到所述缓存区等待该项目测试结果；

当根据项目测试结果判断该项目需要重测时，控制将样本从缓存区调度到吸样位进行吸样，以进行因项目测试结果导致的重测。

5.如权利要求4所述的样本重测方法，其特征在于，所述控制所述样本在缓存区等待所述测试项目缺少的耗材的添加，包括：

控制所述样本在缓存区等待该样本/该样本所在的样本架上已进行项目吸样的项目测试结果；

当在项目测试出结果时间内未检测到耗材补充完毕的信息，那么当项目测试出结果时间到达后：若根据项目测试结果判断该样本/该样本架上样本没有项目需要重测，则控制将该样本/该样本架从缓存区调度到回收区以供回收；若根据项目测试结果判断该样本/该样本架上样本有项目需要重测，则控制将该样本/该样本架从缓存区调度到吸样位进行吸样，以进行因项目测试结果导致的重测；

当在项目测试出结果时间内检测到耗材补充完毕的信息，则控制将该样本/该样本的样本架从缓存区调度到吸样位进行吸样，以进行因耗材导致的重测；或者，当在项目测试出结果时间内检测到耗材补充完毕的信息，则继续等待项目测试结果，当项目测试出结果时间到达后，若根据项目测试结果判断该样本/该样本架上样本没有项目需要重测，则控制将该样本/该样本架从缓存区调度到吸样位进行吸样，以进行因耗材导致的重测；若根据项目测试结果判断该样本/该样本架上样本有项目需要重测，则控制将该样本/该样本架从缓存区调度到吸样位进行吸样，以进行因耗材导致的重测和因项目测试结果导致的重测。